- 電路功能與優(yōu)勢圖1所示電路集成了雙軸加速度計ADXL203和12位逐次逼近(SAR)型ADCAD7887，打造出一款雙軸傾斜測量系統(tǒng)。ADXL203是一款多晶硅表面微加工傳感器并集成信號調(diào)理電路。X或Y軸方向的加速度會在器件的XOUT
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雙軸 加速度計 電路 測量
- 貼片鉭電容的頻率特性分析,我們知道每種電容都有它的頻率特性，那么AVX 鉭電容的頻率特性是怎么樣的呢?AVX 鉭電容隨著頻率的增加有效電容的值會減小，直到共振達到(通常視0.5 - 5MHz 的之間該評級)。
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測量 功率
- 開關電源電路設計秘笈之解決電源電路損耗問題,您是否曾詳細計算過設計中的預計組件損耗，結(jié)果卻發(fā)現(xiàn)與實驗室測量結(jié)果有較大出入呢?本文介紹了一種簡便方法，以幫助您消除計算結(jié)果與實際測量結(jié)果之間的差異。該方法基于泰
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測量 開關電源
- 集成放大器冷結(jié)補償?shù)臒犭娕紲囟葴y量系統(tǒng),電路功能與優(yōu)勢圖1所示電路是一款完整的熱電偶信號調(diào)理電路，帶有冷結(jié)補償功能并后接一個16位sum;-△型模數(shù)轉(zhuǎn)換器(ADC)。 AD8495熱電偶放大器為測量K型熱電偶溫度提供了一
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電源 放大器 測量
- 低氣壓環(huán)境下的電子元器件可靠性解析,實現(xiàn)電子元器件的高可靠性是電子技術發(fā)展本身提出來的，界定元器件的可靠性是一個多系統(tǒng)、多方面的課題，它涉及到設計標準、制造標準、質(zhì)量控制標準、驗收標準、檢驗標準、失效分析、使用標準等等，而提高元器件可靠性是我們永遠的課題。
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測量 控制
- 一種新型光強度數(shù)顯器原理與設計,光強度數(shù)顯器是中國專利產(chǎn)品，是以Atmega48單片機控制為核心，能夠?qū)⒐鈴姸燃毞殖稍S多個等級，并用數(shù)字信號顯示出其亮度等級，本設計成本低、顯示精確、操作簡單。
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測量 數(shù)字信號 單片機 控制
- 基于STM32的多路電壓測量設計方案,本設計提出一種基于STM32芯片的多路電壓測量設計方案，測量范圍在0-10V之間。把STM32內(nèi)置A/D對多路電壓值進行采樣，得到相應的數(shù)字量。然后按照數(shù)字量和模擬量的比例關系得到對應的模擬電壓值，通過TFTLCD顯示設備顯示出來，同時將多路采集的數(shù)據(jù)存儲到SD卡中。
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控制 測量 單片機
- 基于LTC6802的鋰電池組均衡電路設計,動力電池組被廣泛應用在電動自行車和混合動力汽車中。電池組在使用中由于單體電池性能的差異而導致整體性能和壽命的下降非常普遍， 通過均衡可以提高電池組能量利用率和使用
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測量 單片機
- 三相無功功率的測量,單相交流電路的無功功率也可以用有功功率表來測這是因為無功功率 如果改變接線方式，使功率表電壓支路的電壓U與電流線圈上的電流i之間的相位差為90deg;-∮，這時有功功率
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功率 測量
- 交流電壓測量電路的工作原理,交流電壓測量電路中的整流裝置與交流電流測量電路中的整流裝置相似。因而在具有交流電流和交流電壓測量功能的萬用表中都是共用一套整流器件。交流電壓測量中，擴大量程用的
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線性電源 測量
- 介紹了元器件檢測實驗室對測量不確定度評定的要求，測量不確定度評定的一般步驟和方法。對元器件檢測中的測量不確定度評定的若干問題進行了分析，用一個實例說明了如何在元器件檢測中實施測量不確定度評定。
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元器件檢測 測量 方法 實例
- 利用數(shù)字隔離器簡化設計并確保系統(tǒng)可靠性,內(nèi)容提要工業(yè)環(huán)境中使用的測量器件往往需要進行隔離以確保用戶和系統(tǒng)安全，同時也是為了保證在高共模電壓下獲得準確的測量結(jié)果。數(shù)字隔離器為光耦合器一類的較老技術提供了
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測量 數(shù)字隔離器 控制器
- 圖解觸摸屏的電磁干擾問題,開發(fā)具有觸摸屏人機界面的移動手持設備是一項復雜的設計挑戰(zhàn)，尤其是對于投射式電容觸摸屏設計來說更是如此，它代表了當前多點觸摸界面的主流技術。投射式 電容觸摸屏能夠精
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傳感器 測量
- 解析:電容式觸摸屏設計難點及注意事項,對觸摸屏性能影響最為深遠的技術改變要算是從電阻式轉(zhuǎn)移至電容式觸摸屏技術。根據(jù)市調(diào)機構(gòu)iSuppli預測，到2011年前，近25%的觸摸屏手機將由電阻式轉(zhuǎn)移至電容式觸摸屏。電容
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測量 電容
- 三相電路功率的測量實驗原理,1.對于三相四線制供電的三相星形連接的負載(即Y0接法),可用一個功率表測量各相的有功功率PU，PV，PW，則三相負載的總有功功率sum;P=PU+PV+PW。這就是一瓦特表法，如圖1所示
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功率 測量 電源
抖動（jitter）測量介紹
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