- LED燈具損壞的原因 LED燈具失效一是來源于電源和驅動的失效，二是來源于LED器件本身的失效。通常LED電源和驅動的損壞來自于輸入電源的過電沖擊(EOS)以及負載端的斷路故障。輸入電源的過電沖擊往往會造成驅動電
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保護 措施 電路 分析 燈具 失效 LED
- IC智能卡作為信息時代的新型高技術存儲產品，具有容量大、保密性強以及攜帶方便等優點，被廣泛應用于社會生活的各個領域。通常所說的IC卡，是把含有非揮發存儲單元NVM或集成有微控制器MCU等的IC芯片嵌裝于塑料基片而
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研究 機理 失效 智能卡 IC
- 在3G三大標準中均是基站同步系統，TD-SCDMA系統是全網同步系統，要求所有基站之間嚴格保持時間同步對于TD-SCDMA通信系統的重要性不言而喻。由于缺乏先進的網絡同步技術，TD-SCDMA基站普遍采用全球定位系統(GPS)同步[
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失效 影響 同步 GPS 網絡 TD-SCDMA
- 1 引言 長期以來，人們對產品進行環境模擬試臉時，大多采用單項環境的試驗方法，即在某一時間內只對一種產品施加一項環境條件，如單項濕度試驗、單項沖擊試驗等，很少在某一時間內同時對一種產品施加兩項以上
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失效 機理 分析 環境 綜合 溫度 濕度 振動 加速度計
- 1 問題的提出
我公司生產的USBkey產品所使用的MCU電路，自2007年9月初USBkey產品開始量產化后，我們對其部分產品做了電老化試驗，發現該款電路早期失效問題達不到我們要求，上電以后一段時間內失效率為千分之一點五左右。為此，我們從去年10月到今年2月對所生產的產品(已發出的除外)全部進行了電老化篩選，通過這項工作發現了一些規律性的東西，對提高電子產品的安全可靠性有一定指導意義。
2 試驗條件的設定
造成電路早期失效的原因很多，從IC設計到半導體生產工藝、電路封裝、焊接裝配等
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MCU IC設計 失效 集成電路
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