- 半導體電子束檢測(E-beam Inspection)設備龍頭漢微科正全速擴產。繼28和20奈米(nm)之后，2015年晶圓代工廠紛紛跨入16或14奈米鰭式電晶體(FinFET)世代，對高解析度的電子束檢測設備需求將更加強勁，因而帶動漢微科提早展開布局，將于2013～2014年投入新臺幣10億元擴建新廠房，并于2014下半年正式投產，挹注三倍設備產能。
漢微科財務長李學寒表示，自2012年開始，晶圓代工業者已逐步在28奈米先進制程中導入高階電子束晶圓缺陷檢測設備，以克服電晶體密度大幅微縮后，傳統
- 關鍵字：
漢微科 半導體電子束檢測
半導體電子束檢測介紹
您好，目前還沒有人創建詞條半導體電子束檢測!
歡迎您創建該詞條，闡述對半導體電子束檢測的理解，并與今后在此搜索半導體電子束檢測的朋友們分享。
創建詞條
關于我們 -
廣告服務 -
企業會員服務 -
網站地圖 -
聯系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術信息咨詢有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網安備11010802012473
