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        微捷碼與Camtek通力合作 增強先進半導體的良率

        作者: 時間:2009-07-17 來源:電子產品世界 收藏

          芯片設計解決方案供應商微捷碼(®)設計自動化有限公司日前宣布,Camtek公司在其旗艦自動與度量系統線Falcon中集成進了微捷碼的®軟件,將其作為一個選項進行銷售。Camtek自動檢測平臺與微捷碼的結合使用使得晶圓廠工程師能更有效地分析在線缺陷數據和良率數據,加速良率問題的根本原因識別,確保更高的良率和更低的制造成本。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/96354.htm

          Camtek系統在一款通用靈活的平臺中提供了出色的2D和3D功能,可滿足不斷演變的設計平臺要求;它不僅具有Cleanroom兼容性,同時也完全符合工廠自動化標準,這些都使得Camtek系統可無縫地集成進最先進的生產環境中。是一款可定制的良率管理軟件系統,使得工程師能夠采集、關連、分析并共享關鍵數據;它結合高級別的不同來源數據的關連與快速鉆取數據范圍,可加速良率限制問題的根本原因識別、節省工程時間并集中資源。這款-Camtek聯合解決方案讓半導體晶圓廠和實驗室分析團隊能夠更快更輕松地定位潛在缺陷并更為快捷地加以糾正。

          “確保可靠性的同時最大程度降低制造成本是半導體成功的關鍵因素,”Camtek公司首席執行官Rafi Amit表示。“通過實現更快的良率問題識別,微捷碼和Camtek可幫助半導體客戶達成其成本、性能和上市時間目標。”

          “先進的晶圓廠往往有一系列的精密設備,它們為工程師提供了空前的IC相關信息量,但同時也帶來了耗時的數據分析工作,”微捷碼Fab分析業務部副總裁Ankush Oberai表示。“采用YieldManager軟件和Falcon系統,設計師能夠更快速有效地利用自動系統所提供的信息來對IC制造流程作出改動,增強良率。”



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