泰克提供最精確的超高速USB測試解決方案

　　泰克公司日前宣布，為超高速 USB (USB 3.0)設備的檢定、調試和自動化一致性測試提供一套完善的新工具組。泰克本次在DPO/DSA70000B示波器上最新推出的USB-TX選件為驗證USB 3.0發射機提供了自動的一鍵式測試解決方案，為工程師帶來了更高效的方法，加快產品開發周期。此外，泰克公司還推出了一整套USB 3.0測試夾具，使工程師可以執行更精確的發射機、接收機和電纜測試。

　　受來自更快數據傳輸速度的驅使，USB 3.0的性能較當前USB解決方案提高了10倍，但同時也給系統和電路設計人員帶來了多重挑戰。增加的帶寬對關鍵信號傳輸和信號保真度提出了更高的要求，因而需要異常準確、功能多樣的測試解決方案。當業內其它解決方案只是根據USB-IF測試規范提供標準化測量時，泰克的USB-TX選項則支持所有測量，包括標準化測試和參考性測試，如擴頻時鐘(SSC)、轉換、電壓電平等等。客戶完全可以信賴其設計驗證過程。

　　其它解決方案只限于特定標準化一致性測試，而泰克USB-TX則提供了全面而完善的一系列檢定、調試和一致性測試工具。加上唯一能夠以最近距離探測芯片的插頭式測試夾具，泰克USB3.0測試解決方案可以最真實地反映信號。

　　“我們得以提前試用泰克為超高速 USB最新推出的測試解決方案，它為Fresco Logic的USB 3.0芯片設計工藝帶來的生產效率上的提高令人激動。”Fresco Logic公司首席技術官Bob McVay說，“AWG7000可以執行接收機容限測試，并能夠迅速從發射機一致性測試環境轉到調試。事實證明，AWG7000可以節約大量時間。”

　　高速串行標準自動化框架

　　選項USB-TX基于TekExpressä框架，該框架是專為自動一鍵式測試高速串行數據標準而開發的。TekExpress模塊基于標準機構指定和發布的測試要求和實現方法(MOI)，所有測試流程均自動完成，客戶只需選擇所需的測試，就可以獲得包括通過/失敗和余量結果的完整報告。除新推出的USB 3.0解決方案外，泰克目前還為SATA和DisplayPort提供了自動測試模塊。

　　“TekExpress幫助工程師們消除了高速串行數據測試工作中的臆測。在當前環境中，客戶要處理多種標準，成為所有領域的專家，這一點極具挑戰性。”泰克公司技術解決方案部總經理Ian Valentine說，“TekExpress提供了客戶所需的專業技術，并使得他們能夠專注于早日將設計投向市場上。”

　　完整的發射機、接收機和電纜測試解決方案

　　USB將加入其它高速串行標準，如速率達8 Gb/s 的PCI Express和6 Gb/s的SATA ，成為要求更高的技術之一，從而需要先進的測量儀器，如泰克最新推出的業內領先的DPO/DSA70000B示波器。泰克實時示波器擁有高達20GHz的帶寬，提供了業內最優秀的信號保真度、最低的噪底和最高的有效比特數(ENOB)，為高要求的一致性測試和調試測試提供了更大的余量和保真度。對于接收機測試來說，泰克AWG7000B任意波形發生器是唯一可以在一臺儀器中生成所有要求信號的解決方案。同時，泰克還通過其DSA8200采樣示波器提供了電纜和信道測量解決方案。