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        電磁兼容外場測試中的干擾抵消技術(下)*

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        作者:葛壽兵 中國電子科技集團公司第23研究所 龔成 中國電子科技集團公司第50研究所 時間:2009-05-22 來源:電子產品世界 收藏

          采用M個陣元的自適應線陣,它的方向圖函數可表示為:

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/94656.htm

          (16)

          式中wi為各陣元的復加權系數;d為相鄰單元間距。

          圖6給出了當自適應陣列方向圖最大增益指向q=0o的被測信號方向,方向圖零深對準q=q1的干擾信號方向,則測試點處的被測信號與干擾信號的幅度比為:

          (17)

          如果SIR高于15dB,則進入頻譜儀的干擾信號幅度遠小于被測信號,即可以忽略干擾信號的對測試結果的影響。



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