電磁兼容外場(chǎng)測(cè)試中的干擾抵消技術(shù)(下)*
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作者：葛壽兵 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第23研究所 龔成 中國(guó)電子科技集團(tuán)公司第50研究所
時(shí)間：2009-05-22
來(lái)源：電子產(chǎn)品世界
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采用M個(gè)陣元的自適應(yīng)線(xiàn)天線(xiàn)陣，它的方向圖函數(shù)可表示為：
本文引用地址：http://www.104case.com/article/94656.htm 
(16)
式中wi為各陣元的復(fù)加權(quán)系數(shù);d為相鄰單元間距。
圖6給出了當(dāng)自適應(yīng)天線(xiàn)陣列方向圖最大增益指向q=0o的被測(cè)信號(hào)方向，方向圖零深對(duì)準(zhǔn)q=q1的干擾信號(hào)方向，則測(cè)試點(diǎn)處的被測(cè)信號(hào)與干擾信號(hào)的幅度比為：
(17)
如果SIR高于15dB，則進(jìn)入頻譜儀的干擾信號(hào)幅度遠(yuǎn)小于被測(cè)信號(hào)，即可以忽略干擾信號(hào)的對(duì)測(cè)試結(jié)果的影響。
評(píng)論