威盛電子對高速串行數據進性測試

俄勒岡州比佛頓，2005年9月29日——世界領先的測試，測量和監測儀器供應商泰克公 司（NYSE：TEK），今天宣布芯片技術和平臺解決方案的領先開發商威盛電子份有限 公司已經選擇泰克的數字系統分析工具來開發其基于串行數據標準（例如第二代 PCI-Express接口和SATA  III）的數字產品。完整的泰克解決方案由TLA7000邏輯分析 儀 和超高性能TDS6000示波器組成，這一方案將使威盛的工程師們更圓滿完成設計和驗證 任務，進行全面的協同操作性測試工作，并同時對基于PCI-Express接口和SATA  III規 格的數字產品執行一致性測試。 
 
因為其測試的需要，威盛選擇了新的泰克TLA7012和TLA7016邏輯分析儀，12GHz的 TDS6124C示波器和世界上最快的實時示波器－15 GHz的  TDS6154C。TLA7000系列邏輯 分 析儀包括了iLink(tm)工具包，這一工具完美地把邏輯分析器和一個示波器整合到一 起，從而提供對數字和模擬信號的實時觀察，并從根本上加快多路信號調試的工作。 
 
“威盛科技通過對未來科技發展的預判以及率先應用這些技術來保持其在行業中的領 先 地位，這些技術被包括在分立硅元件應用或在大范圍內整合到核心邏輯芯片上。”  威 盛電子股份有限公司的產品營銷副總裁林哲偉先生說，“高速的串行數據總線例如第 二 代PCI-Express接口和SATA III為設計和一致性測量的提出了新的挑戰。泰克的 TLA7000 邏輯分析儀和TDS6000示波器的結合支持了我們在各個階段的測量要求，這些階段包括 設計、驗證、一致性測量和調試等，并且能使我們的工程師們更具信心地對高速串行 設計進行測試和測量。” 
“威盛電子有著著名的創新史，我們很高興他們再次選擇泰克的測試解決方案來動
他 們下一代產品的研發，”泰克亞太區銷售和營運副總裁Bob 
Agnes說，“這些超高性能 的泰克儀器將使威盛的工程師們迅速又高效的解決在驗證和一致性測試中遇到的問 題， 在確保世界級水平的產品品質和可靠性的同時，減少產品推向市場的時間。”