可測量高電壓的差分放大器
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作者：Moshe Gerstanhaber,Chau Tran,Analog Devices#BSD# W
時間：2005-09-09
來源：EDN電子設計技術
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可測量高電壓的差分放大器
圖1示出了兩種測量大信號的方法。第一種方法采用一個兩電阻分壓器和一個輸出緩沖器，第二種方法采用一個衰減反相器和一個高電壓輸入電阻器。這兩種方法都會引入線性測量誤差，因為只有一個電阻器消耗功率，從而導致其自熱及阻值相應改變。另外，放大器及其余的電阻器也會引入偏移電流、偏移電壓、CMRR（共模抑制比）效應、增益誤差以及飄移，從而會極大地降低系統整體性能。
圖2所示是基于Analog Devices公司AD629的電路，可以以小于5 ppm（百萬分之一）的線性誤差來測量大于400Vp-p的輸入。該電路可將其輸入衰減20倍，提供緩沖輸出。將放大器與衰減電阻器封裝在一起，可確保衰減器串中的兩個電阻器在同一溫度上工作。放大器輸出級采用超電流放大系數晶體管來減少由偏置電流誤差所引起的偏移電流與誤差。在低頻上運用100% 的反饋可實現無噪聲增益，且偏移電壓及其飄移幾乎不增加誤差。
AD629在100%反饋下性能不穩定，而30 pF電容器可給反饋增益增加一個極點與一個零點，以使電路穩定并使系統帶寬最大化。以下公式可計算極點頻率fP：fP =1/(2p(380 kΩ+20 kΩ)
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