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        邊界掃描解決的測(cè)試問題(06-100)

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        作者: 時(shí)間:2008-04-10 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          但是,本質(zhì)上是慢的。器件一般工作在2MHz和62MHz之間的TCK頻率。一旦器件連接在鏈路中,TCK最高頻率只能是鏈路中最慢TCK。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/81438.htm

          測(cè)試設(shè)計(jì)(DPT)技術(shù)(如分割鏈路為若干短鏈路、分離鏈路)允許在較高頻率驅(qū)動(dòng)某些器件。但是,終歸甚至60MHz測(cè)試率將不允許真正的高速測(cè)試的任何形式。

          邊界掃描不能解決的問題

          邊界掃描不能解決帶功能測(cè)試的問題,表2給出詳情。


          
          結(jié)語

          本質(zhì)上邊界掃描技術(shù)解決的問題是與結(jié)構(gòu)有關(guān),而與功能缺陷無關(guān)。在單板和多板級(jí),通過芯核級(jí)中的邊界掃描繞接和邊界掃描寄存器,依靠接入可檢測(cè)目標(biāo)缺陷。(京湘)


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        關(guān)鍵詞: 邊界掃描 IEEE

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