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        邊界掃描測試技術(04-100)

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        作者: 時間:2008-04-01 來源:電子產品世界 收藏

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/81044.htm

          在位于系統主機板上的掃描控制器件的控制下,這些向量通過總體掃描鏈發送。這種系統級基礎結構可用于執行從靜態結構測試到以BIST速度的測試。這也可以在現場更新可編程邏輯器件中的系統操作固件和配置碼的修改版本。

          用商用軟件工具,在實踐中實現所設計的理論性測試方法是可能的。這要考慮不同系統級結構的支持以及系統接口器件和測試配置的各種組合。

          外部控制

          圖4給出在采用外部控制器時測試向量開發的數據流程,外部控制器包括配備PCI邊界掃描控制卡的PC。一旦進行測試的檢驗,同樣的測試向量格式存儲在閃存中,在掃描主機的控制下廣播到系統的從機板/模件。

          圖4示出在系統主機測試處理器的控制下NS公司的ScanEASE軟件驅動器如何用于控制向量傳遞。嵌入式向量來自同一ATPG(自動測試程序產生器)輸出,這原來是為外部邊界掃描測試開發的。其他測試總線控制器廠家(如Firecron公司)也提供類似的驅動器。

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        關鍵詞: 嵌入式 IEEE1149.1

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