NI成功主辦第二屆 中國PXI技術和應用論壇

——PXI技術業已成為測試測量行業的主流技術趨勢

　　2005年7月——美國國家儀器有限公司（National Instruments，簡稱NI）宣布成功主辦第二屆“中國PXI技術和應用論壇” （PXI Technology & Application Conference，即PXI TAC 2005），本屆活動于2005年7月7日在深圳舉辦，深圳站共吸引了近400位相關領域的工程師和技術人員到場參加。此外，值得一提的是PXI TAC是由NI主辦、大中國地區規模最大的多供應商PXI活動，共有十家PXI行業內的企業“同臺獻藝”，攜手展示和推廣PXI技術和產品，他們分別是：白金贊助商Chroma、金牌贊助Aeroflex、VI Services（上海聚星儀器）、北京泛華測控和臺灣拓甫科技，以及其他參與廠商ASCOR、VPC（美國弗吉尼亞電子器件公司）、ADLINK（凌華科技）、Acqiris和Ztec Technologies等，盛況空前。

　　來自NI美國總部的全球市場及客戶運營高級副總裁John Graff先生正在發表精彩的主題演講，其他的演講者包括：NI全球模塊化產品、PXI及儀器控制部門產品市場總監Eric Starkloff先生和Chroma（致茂電子股份有限公司）PXI系統事業部總經理莊嘉明先生。

　　今年活動的主旨是：PXI——引領自動化測試技術的潮流。活動同期共舉行了十場儀器/自動化和測試應用專題的技術研討會，從現場觀眾的反饋和參與廠商的交流來看，PXI技術正在被越來越多的測試測量工程師所接受和認可，PXI業已成為測試測量行業的主流技術趨勢。

　　會議現場的調查，高達90%的觀眾將把PXI作為他們今后的首選測試測量平臺，71.3%表示他們有意向參加、并會向同事推薦明年的活動。參與此次活動的來賓也紛紛表示：“論壇有實例有產品，理論和實際相結合，讓我能更深入地了解PXI技術的前沿知識，以及其操作的便利性?！?BR>　
　　基于兩屆活動的成功經驗，NI會在明年繼續舉辦第三屆“中國PXI技術和應用論壇”，并有信心將其打造成大中國地區PXI行業內首屈一指的多供應商技術論壇。