科利登發布D-6432DFT測試解決方案

　　科利登系統有限公司推出業界性價比最高、性能最為出眾的解決方案Sapphire D-6432DFT，用于測試新興的高速計算和消費應用中所使用的微處理器、游戲及圖形器件。該設備的推出再次強化了科利登市場領先的Sapphire測試平臺。

　　Sapphire D-6432DFT設備是首款用于高速串行總線的集成測試解決方案，在一次插入中結合了高速環路測試、抖動測量和注入信號，以及掃描/功能性測試和DC參數測量。D-6432DFT的密度比同類產品高出4倍，可為制造商提供突破性的可測性設計（DFT）方法，助其顯著降低高速半導體器件的總體成本并縮短上市時間。

　　這一新設備是與領先的微處理器生產廠商AMD公司合作開發的。目前，AMD的工程師正采用Sapphire平臺和D-6432DFT加速其最先進產品的測試和上市周期。在全球數以百計的Sapphire平臺裝機量中，已有200多個D－6432DFT設備安裝在了屢獲殊榮的Sapphire平臺中，進行生產測試。

　　AMD公司自動測試設備（ATE）技術經理兼高級技術工程師Pete Hodakievic表示：“市場對高速總線接口測試和快速數據傳輸率提出了越來越高的要求，迫切需要一種比簡易承載板環路測試技術更為強勁的測試方法。同時，我們又因為需要控制測試成本，而無法采用傳統的測試設備和方法。采用Sapphire D-6432DFT，我們用單次插入即可完成對最先進的微處理器芯片進行高速環路測試、DC參數測試，以及掃描和功能測試。相比全功能測試，D-6432DFT不僅有更好的測試覆蓋，還可以顯著降低測試成本?！?/P>

　　為了實現更高的數據速率，PCI Express I和II、HyperTransport 2.0和3.0、XAUI、XDR、RapidIO和InfiniBand等高速端口得到了越來越多的應用。然而，高速總線對傳統“功能”測試方法的成本、復雜性和周期都提出了挑戰。這些不確定因素在低速測試時能運作無誤，但速度高于6 Gbps以上時，則有可能產生風險。目前的“近端”環路（即利用設備來輸出測試數據，再回收數據至設備以進行識別）技術簡單、性價比高，但難以有效地處理抖動、信號變異和協議性能，從而導致測試不完全或測試死角。集成電路制造商需要采用可測性設計方法，才能對那些影響設備和系統性能的關鍵變量進行靈活、全面的測試。

　　遠端環路：卓越的抖動測量和控制，提供更高的價值Sapphire D-6432DFT有效地應用了創新的遠端環路技術，既具有可測性設計的靈活性，又有功能測試所具備的深層診斷能力。通過將待測器件置于高性價比的智能測試設備通道中，延長了反饋路徑，也首次實現了高速總線在生產級的測試。與以往那種投資多臺設備測試少量通道的碎片式方法不同，D-6432DFT集成了廣泛的功能，可在單臺設備上測試多達16個通道。其優勢包括：

.每一通道通過集成電路實現同時的、并行的抖動注入和抖動測量，并不需要附加設備
.電壓和時間域中的全封閉眼圖測試
.除了極低成本的差分測試，還集成了用于掃描/功能性測試的400/800 Mbps數據子系統
.增加了解決信號完整性問題的靈敏度覆蓋檢測
.接收器和發送器通道可用來為內核邏輯和協議堆棧提供測試向量
.用于全面DC參數測試的器件管腳存取

　　科利登副總裁兼自動測試設備總經理Chetan Desai表示：“與AMD這樣的行業領先企業合作，使我們能夠提供滿足市場需求的方案，幫助客戶充滿信心地進行技術創新并應對上市周期和成本的雙重挑戰。我們很高興推出Sapphire D-6432DFT，這是業界唯一用于高速器件生產測試的可行方案。它不僅能滿足今天的市場需求，還可靈活適應未來幾代的產品發展?！?/P>

　　Sapphire D－6432DFT設備現已投放市場。在7月17日至18日舉辦的Semicon West 展會期間, 科利登技術中心展出了Sapphire D-6432DFT設備，還現場展示了科利登完整的測試解決方案，包括曾經獲獎的Sapphire平臺和Diamond 平臺。