安捷倫推出用于測試850nm多模電－光元器件的光波元器件分析儀
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這款LCA可以降低測試成本，加快開發速度，解決目前在LAN/SAN、高速芯片互連和光學背板等方面的挑戰。
新型Agilent N4376B LCA可以降低測量的不確定性，并且測量結果遵循國際標準（安捷倫對此予以保證）。因此使用它，生產、支持和研發工程師能夠提高產品的產量和生產能力。在多模條件下對850 nm目標波長的多模元器件進行測試，可以優化短距離元器件的設計――因為不需要通過其他波長的測量結果來推斷850 nm目標波長的測量結果，所以消除了額外的測量不確定性。
這款光元器件分析儀擁有在850nm波長處完善的多模發射條件和高達20 GHz的調制速率的標準光/電轉換器，進一步豐富了安捷倫的產品線。它可以分析所有類型（電/光、光/電、光/光）的網絡器件，包括激光驅動器、放大器、激光器、發射機、光調制器、光電二極管和無源光器件等。
它可以在安捷倫業內領先的網絡分析儀基礎上進行線性發射和反射表征測量，提供全S參數分析以及從分析儀一直到探針的校準。
用戶可以從現有的Agilent N4373A LCA或高性能網絡分析儀經濟高效地升級到此解決方案，從而有效地保護投資。
安捷倫副總裁兼光網絡測試部總經理Alois Hauk稱：“Agilent N4376B LCA是一款完整的測試解決方案，具有史無前例的850 nm測量能力，可幫助用戶更快、成本更低地擴建寬帶基礎設施。作為市場上第一款、也是絕無僅有的一款測試解決方案，新型光波元器件分析儀將幫助高性能網絡器件制造商集中力量開發高速、創新的產品，提高生產效益?！?/span>
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