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        Viscom推出3維X-Ray AOI/AXI同步檢測設備

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        作者: 時間:2007-04-20 來源:EEPW 收藏
        為視覺檢測結合X-Ray檢測提供了新的標準解決方案,這就是制造商們長久期待的,AOI/AXI 同步檢測設備:  X7056。自動光學檢測機AOI已經在全世界廣泛的應用。BGA, μBGA和CSP等小型元件的裝配 ,要求檢測系統能夠可靠、低成本的檢測到隱藏的缺陷,并且在快速大批量的生產中保證牢固的檢測深度。

        這正是X7056的實力:高性能的3維自動X-ray檢測系統(AXI)搭配同步上、下雙面的光學檢測,以適應當今電子制造業高產率的要求。

        X7056的X-ray核心科技—高性能微距X射線顯像管,由研發并生產—確保每像素擁有15 μm的解析度。全新的3維X-ray迭代建模,同時也保證高清晰的成像質量。從而,復雜、重疊交替的雙面PCB能夠被清晰的解析,易于分析。綜合了6百萬像素傳感器技術,在最大產量的檢測中,X7056提供Viscom系統中最高最好的檢測深度和效果。特別引人注目的,X7056能夠裝備上AOI的鏡頭,同時檢測PCB的上、下兩面。

        綜合了雙面光學檢測和X-ray檢測,這套高性能的聯合系統設立了質量保證的新標準。同步檢測、 雙軌道傳輸,實現了高速檢測和低時間滯留。X7056采用全模塊化設計,能夠作為AOI/AXI同步檢測設備,亦可用作單一AXI檢測。多樣的檢測概念,可靈活的滿足客戶不同的檢測需求。

        另外,該設備還包含了Viscom EasyPro快速編程軟件、全面兼容Viscom檢測算法等特性。X7056在軟、硬件上全面兼容Visom AOI系統。

        添加高性能的VPC軟件模塊可以實現監控程序、應用多種濾鏡功能優化控制。


        關鍵詞: Viscom 測量 測試

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