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        基于高速IGBT的100kHz高壓-低壓DC/DC轉(zhuǎn)換器

        作者:榮睿 時間:2015-09-07 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏
        編者按:本文分析了一種基于高速IGBT的軟開關(guān)移相全橋帶同步整流的DC/DC轉(zhuǎn)換器。移相全橋拓撲的軟開關(guān)技術(shù)是混合動力汽車和電動汽車高壓-低壓DC/DC轉(zhuǎn)換器的主流關(guān)鍵技術(shù)。業(yè)界早期使用MOSFET作為主功率單元,隨著該DC/DC轉(zhuǎn)換器的功率需求逐漸增大,基于MOSFET的設計系統(tǒng)效率急劇下降,已經(jīng)不能滿足應用要求。本文采用英飛凌第三代高速IGBT和快速二極管功率模塊F4-50R07W1H3作為DC/DC轉(zhuǎn)換器核心主功率單元,采用無核傳感技術(shù)的驅(qū)動芯片1ED020I12FA2,使開關(guān)器件工作在100kHz的軟開關(guān)

        2 DCDC轉(zhuǎn)換器電路設計

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/279228.htm

          該采用英飛凌的650V 50A和快速二極管模塊Easy module 1B,具體電路形式見圖9,主要采用的電子元件見表2。

        2.1 主功率變壓器設計

          主變壓器匝比,計算見公式1,其中和MOSFET有區(qū)別的地方在于開關(guān)器件結(jié)壓降變成了IGBT的集電極到發(fā)射極壓降Vcesat。更高的匝比數(shù)可以降低原邊流過IGBT的電流有效值,但是另一方面,由于變壓器漏感引起的丟失占空比使得最低輸入電壓220V和額定輸出電壓13.8V的有效占空比應控制在85%以內(nèi),因此最后選擇匝數(shù)比為13:1:1。

        (1)

          為了正確選擇磁芯尺寸,保證變壓器不會飽和,應計算最大磁場密度 B,具體計算見公式(2)[12]。其中Ae是磁芯截面積,n1是變壓器原邊匝數(shù)。λ是副邊的伏秒積。

        (2)

          計算伏秒積的公式見(3)。

        (3)

        2.2 同步整流電路設計

          同步整流技術(shù)可以顯著提高副邊的整流效率,降低整流產(chǎn)生的損耗。常見的同步整流電路拓撲有三種,全橋整流,全波整流和倍流整流。倍流整流在這種應用中需要耐壓更高的開關(guān)器件,因此會產(chǎn)生更大的通態(tài)損耗,系統(tǒng)效率在86%左右,而全橋整流和全波整流都可以達到90%以上的效率。本設計選用了全波整流拓撲,如圖3所示。相比于全橋整流電路,變壓器副邊需要多一個中心抽頭,但是所用的半導體數(shù)量會減少一半。雖然半導體上的電壓應力因為副邊兩個繞組的關(guān)系需要耐壓更高,但是MOSFET數(shù)量的減少使兩種拓撲的損耗基本一致。仿真計算結(jié)果也支持了這一分析,而且全波整流在更高負載的效率也比全橋整流略有優(yōu)勢。

          輸出濾波電感的設計主要是滿足電流連續(xù),因此計算公式見4。由公式可知,提高開關(guān)頻率有利于減小電感感值,也有利于較小電感尺寸。

        (4)

        2.3 電流檢測變壓器設計

          常見的電流傳感方案有采樣電阻、霍爾傳感器,電流檢測變壓器等等,電流檢測變壓器具有低成本和電氣隔離的特點,本設計采用了電流檢測變壓器來檢測電流信號。在拓撲中電流檢測傳感器有兩種檢測位置,如圖4所示。

          放置在直流母線側(cè)的電流檢測傳感器可以檢測上下臂直通短路,但是由于其負載是單向的,要避免短路時發(fā)生的磁飽和會比較困難,特別是要注意飽和點要超過主變壓器原邊的飽和點,否則無法檢測短路電流。如果電流檢測傳感器的設計在主變壓器的原邊,由于其工作在雙向模式,因此磁通密度提高了一倍。而無法檢測上下臂直通的缺點通過驅(qū)動芯片來彌補,設計采用的驅(qū)動芯片具有互鎖功能,有效防止上下臂直通短路。

        3 測試驗證結(jié)果

          在100kHz開關(guān)頻率下,進行了一系列的測試,以評估在此應用中的適應性和潛在優(yōu)勢。本設計出于成本和空間的考慮,沒有采用外置的諧振電感,而是運用變壓器自身漏感來進行諧振。從基本性能來講同樣電壓電流的IGBT芯片面積只有MOSFET的六分之一,在小電流和低溫條件下MOSFET具有優(yōu)勢。但是隨著工作結(jié)溫的提高的電流增大,IGBT的電流能力迅速提高,導通損耗比MOSFET明顯降低,如圖5所示。

        3.1 關(guān)斷損耗分析


        如圖6所示在此拓撲中的關(guān)斷拖尾電流幾乎可以忽略,和傳統(tǒng)IGBT相比,其關(guān)斷損耗顯著減小。在結(jié)溫較高時,拖尾電流開始顯現(xiàn),關(guān)斷損耗也開始增加。


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