示波器限定范圍內參數測量和門限測量

圖7 波形門限測量的應用

圖8 RQM功能的應用

圖7是利用波形門限測量功能自動測量有特定時序邏輯要求的參數的另一個示例。圖8 則是RQM功能應用的一個典型案例。在SDRAM的時序測量中，要求寫使能信號（C3）和片選信號（C4）均有效（低電平）時，測量Clock（C2）到Data（C1）的Hold Time（建立時間）。這里為實現精確的自動測量，同時設置了限定范圍和波形門限的條件。

對于與特定事件相關的信號的測量，波形門限測量是一種很理想的方法。例如您可以測量僅當片選使能信號選通/激活特定設備后的某信號值。或者利用讀/寫狀態的不同，使用波形門限把有多種信號的總線上的發送與接收狀態分離開來。

圖9是一個實際測試案例。某做LED產品的客戶需要測量圖中的兩個數據包絡。工程師需要控制“包”內信號的幅度和頻率的變化，以此來控制驅動電路。我們有沒有辦法只測量某一部分波形的參數呢？這就需要用到力科示波器RQM中的波形限定測量能力。

圖9 測量部分波形的參數

圖10 是解決這類問題的示例。在圖10 中，我們需要研究控制信號前后兩段類似數據包絡的波形的頻率，如果直接選擇參數進行測量的話，那么毫無疑問得到的結果并不是我們想要的，示波器會自動計算捕獲到的全部波形的頻率。

在選好測量參數（P1：freq）后，選擇菜單中的“Gate”項（圖11），并設置要測量波形的起始范圍，也可利用光標的控制旋鈕或者鼠標拖放來調整控制要限定的波形范圍。設置完成后意味著當前選擇的參數只對限定范圍的這部分波形進行測量。圖13使用同樣的方法對另外一部分波形進行測量。因此，RQM的波形限定測量功能為我們提供了只對波形中部分研究對象進行自動測量的方法。