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        簡(jiǎn)單熱敏電阻測(cè)溫電路

        作者: 時(shí)間:2012-06-07 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏
        在電子產(chǎn)品中的應(yīng)用已經(jīng)越來(lái)越廣泛,在很多的電子產(chǎn)品中也用到了溫度檢測(cè)和溫度控制,但那些溫度檢測(cè)與控制電路通常較復(fù)雜,成本也高,本文提供了一種低成本的利用多余I/O口實(shí)現(xiàn)的溫度檢測(cè)電路,該電路非常簡(jiǎn)單,且易于實(shí)現(xiàn),并且適用于幾乎所有類(lèi)型的。其電路如圖1所示:
        P1.0、P1.1和P1.2是單片機(jī)的3個(gè)I/O腳;
        RK為100k的精密電阻;
        RT為100K-精度為1%的;
        R1為100Ω的普通電阻;
        C1為0.1μ的瓷介電容。
        其工作原理為:
        先將P1.0、P1.1、P1.2都設(shè)為低電平輸出,使C1放電至放完。
        將P1.1、P1.2設(shè)置為輸入狀態(tài),P1.0設(shè)為高電平輸出,通過(guò)RK電阻對(duì)C1充電,單片機(jī)內(nèi)部計(jì)時(shí)器清零并開(kāi)始計(jì)時(shí),檢測(cè)P1.2口狀態(tài),當(dāng)P1.2口檢測(cè)為高電平時(shí),即C1上的電壓達(dá)到單片機(jī)高電平輸入的門(mén)限電壓時(shí),單片機(jī)計(jì)時(shí)器記錄下從開(kāi)始充電到P1.2口轉(zhuǎn)變?yōu)楦唠娖降臅r(shí)間T1。
        將P1.0、P1.1、P1.2都設(shè)為低電平輸出,使C1放電至放完。
        再將P1.0、P1.2設(shè)置為輸入狀態(tài),P1.1設(shè)為高電平輸出,通過(guò)RT電阻對(duì)C1充電,單片機(jī)內(nèi)部計(jì)時(shí)器清零并開(kāi)始計(jì)時(shí),檢測(cè)P1.2口狀態(tài),當(dāng)P1.2口檢測(cè)為高電平時(shí),單片機(jī)計(jì)時(shí)器記錄下從開(kāi)始充電到P1.2口轉(zhuǎn)變?yōu)楦唠娖降臅r(shí)間T2。
        從電容的電壓公式:
        可以得到:T1/RK=T2/RT,即 RT=T2×RK/T1
        通過(guò)單片機(jī)計(jì)算得到RT的阻值。并通過(guò)查表法可以得到溫度值。
        從上面所述可以看出,該的誤差來(lái)源于這幾個(gè)方面:?jiǎn)纹瑱C(jī)的定時(shí)器精度,RK電阻的精度,RT的精度,而與單片機(jī)的輸出電壓值、門(mén)限電壓值、電容精度無(wú)關(guān)。因此,適當(dāng)選取熱敏電阻和精密電阻的精度,單片機(jī)的工作頻率夠高,就可以得到較好的測(cè)溫精度。
        當(dāng)單片機(jī)選用4M工作頻率,RK、RT均為1%精度的電阻時(shí),溫度誤差可以做到小于1℃。
        如果P1.2具有外部上升沿中斷的功能,程序可以更簡(jiǎn)單,效果更好。
        單片機(jī)工作的程序流程圖如下:




        電容器上的電容的時(shí)間函數(shù):


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