氣相色譜儀TCD檢測器常見故障的檢修方法及原因分析

　　TCD檢測器是應(yīng)用最廣泛的一種通用型檢測器，但是TCD檢測器不穩(wěn)定的因素卻相當(dāng)多。由于影響基線不穩(wěn)定的因素涉及到整個色譜儀的大部分部件，而且各個不穩(wěn)定因素之間又相互作用。下面就TCD常出現(xiàn)故障的現(xiàn)象介紹幾種維修方法及原因分析。

　　熱導(dǎo)時基線出現(xiàn)有規(guī)律圓滑波浪形擺動，波動周期約為0.5min

　　檢修方法：

　　1.流量增大時波動周期相應(yīng)減少。

　　2.用手堵住氣路出口，轉(zhuǎn)子慢慢降到零。

　　3.對柱室與檢測室溫控精度進行檢查，都無相應(yīng)波動。

　　4.更換穩(wěn)壓閥后現(xiàn)象仍然如故。

　　5.將檢測室溫度由180度降到150度后，波動完全消失。

　　原因分析：檢測室處有少量冷凝物揮發(fā)，致使基線產(chǎn)生波動“其過程是冷凝物揮發(fā)形成基流。而基流又與氣路流量相關(guān)”當(dāng)流量大時揮發(fā)多，基流大，反之基流小。通常流量是有緩慢波動的，約為1%以下。當(dāng)氣路清潔無污染時，此變化對基線響應(yīng)影響甚微。而當(dāng)氣路不干凈時卻能引起較大的波動。當(dāng)溫度降低時，冷凝物揮發(fā)量下降“即使流量有波動對基線也無可觀察影響。

　　在熱導(dǎo)調(diào)零處基線不穩(wěn)！噪聲表現(xiàn)為無規(guī)則跳動

　　檢修方法：

　　1.衰減增大時，噪聲峰峰值隨之降低。

　　2.預(yù)熱儀器2小時后基線正常。

　　原因分析：儀器長期不用，器壁有吸附。預(yù)熱時釋放出來，影響基線穩(wěn)定性。待儀器充分預(yù)熱后，基線達到正常。

　　不出峰與靈敏度太低

　　檢修方法進行操作條件重復(fù)性檢查。應(yīng)核實操作條件是不是與原來已知的條件相接近。這里包括各氣路的流量值！柱溫及檢測器溫度;輸出衰減檔的位置;橋流的大小;電源是否接通。如果發(fā)現(xiàn)操作條件有異常，應(yīng)努力使操作值與原給定值接近，并及時找出影響操作值復(fù)原的一些不利因素。原因分析此時應(yīng)懷疑的因素只有兩個，一是熱絲位置連線有誤，另一個就是熱絲表面嚴(yán)重污染。對于前者應(yīng)著重了解是否重接過熱導(dǎo)池引線。對熱導(dǎo)池連線來說，除了四個熱絲要構(gòu)成一個橋流之外，還必須注意熱導(dǎo)橋路的對臂熱絲元件應(yīng)當(dāng)處于同一氣路當(dāng)中。如果橋路接線是弄反了將會造成熱導(dǎo)靈敏度很小甚至不出峰的現(xiàn)象。在此情況下往往還有雙向峰產(chǎn)生。對于熱絲表面嚴(yán)重污染來說，應(yīng)首先嘗試清洗熱導(dǎo)池，無效時再考慮取下熱絲清洗及徹底更換。

　　氣化室溫度失控

　　檢修方法去掉汽化加熱板，觀察氣化室是否繼續(xù)處于最高溫度之下。如仍然保持失控，則說明可控硅有機擊穿，加熱絲或引線與機殼相碰。這時切斷儀器總電源，然后用萬用表測試可控硅及爐絲絕緣的好壞。測試可控硅時，可把陽極引線斷開，直接檢查可控硅陽極與陰極間正反向電阻。正常時為幾兆歐。如此值大小則說明可控硅已擊穿，需更換。檢查爐絲對外殼絕緣可在加熱烙鐵芯引線兩端分別測試對機殼的電阻，如有一端阻值很小則說明加熱電路中在碰殼處。

　　原因分析：1.可控硅陰陽兩極間擊穿;2.加熱絲或加熱引線與機殼相碰。