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        一種用于CMOS圖像傳感器集成ADC的性能測(cè)試系統(tǒng)

        作者: 時(shí)間:2014-03-18 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

        隨著CMOS技術(shù)的迅猛發(fā)展,CMOS圖像傳感器以其高集成度、低功耗、低成本等優(yōu)點(diǎn),已廣泛用于超微型數(shù)碼相機(jī)、PC機(jī)電腦眼、指紋識(shí)別、手機(jī)等圖像采集的領(lǐng)域。

        CMOS圖像傳感器的工作流程可以簡(jiǎn)單表述為:外界光信號(hào)由像素陣列采集并轉(zhuǎn)換為模擬信號(hào),再通過(guò)讀出電路傳輸給A/D轉(zhuǎn)換器,最后交于后續(xù)數(shù)字電路進(jìn)行處理。由此可見(jiàn),A/D轉(zhuǎn)換器在整個(gè)CMOS圖像傳感器中起著“承上啟下”的作用,其性能指標(biāo)直接影響著整個(gè)系統(tǒng)的優(yōu)劣,從而使得的性能測(cè)試變得十分重要。

        目前業(yè)界已經(jīng)存在一些通用的測(cè)試方法,例如針對(duì)靜態(tài)指標(biāo)測(cè)試的法,針對(duì)動(dòng)態(tài)指標(biāo)測(cè)試的快速傅式變換法,以及專(zhuān)門(mén)針對(duì)ENOB的正弦波適應(yīng)法等,但是還沒(méi)有單一的測(cè)試方法能夠有效測(cè)試出所有的參數(shù)。

        ADC測(cè)試需要解決成本和效率的問(wèn)題,故需要根據(jù)ADC典型應(yīng)用的環(huán)境,選取一些關(guān)鍵指標(biāo)和有效的測(cè)試方法,制定合理的測(cè)試方案。本文中ADC主要用于CMOS圖像傳感器的數(shù)字輸出,結(jié)合軟件分析程序和測(cè)試儀器,搭建了一套ADC綜合性能測(cè)試系統(tǒng)。

        1 ADC性能測(cè)試系統(tǒng)

        1.1 ADC性能參數(shù)

        表征ADC性能的參數(shù)通常可分為靜態(tài)參數(shù)和動(dòng)態(tài)參數(shù)。其中,靜態(tài)參數(shù)描述的是ADC自身的內(nèi)在特性,與所設(shè)計(jì)的ADC內(nèi)部電路的誤差和噪聲有關(guān),這些誤差包括ADC的增益誤差、失調(diào)誤差、積分非線(xiàn)性(INL)和微分非線(xiàn)性(DNL)等,主要關(guān)注的是具體的模擬輸入電平與相應(yīng)數(shù)字輸出代碼之間的關(guān)系,表征靜止的模擬輸入信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字輸出信號(hào)的精確度;而動(dòng)態(tài)參數(shù)描述的是ADC采樣和重現(xiàn)時(shí)序變化信號(hào)的能力,關(guān)注ADC在交流條件情況下的性能表現(xiàn),主要包括信噪比(SNR)、無(wú)雜散動(dòng)態(tài)范圍(SFDR)、總諧波失真(THD)、信納比(SINAD)以及有效位數(shù)(EN OB)等,這些參數(shù)的測(cè)試都是通過(guò)對(duì)輸入合適的正弦模擬信號(hào)并獲取了芯片正確轉(zhuǎn)換得到的數(shù)字碼之后,進(jìn)行快速傅氏變換()計(jì)算得來(lái)的。表1為ADC典型參數(shù)的公式定義。

        一種用于CMOS圖像傳感器集成ADC的性能測(cè)試系統(tǒng)

        1.2 測(cè)試原理和方法

        目前常規(guī)的測(cè)試系統(tǒng)不能同時(shí)分析多種性能參數(shù),例如:一般的動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)只能測(cè)試ADC動(dòng)態(tài)參數(shù),如信噪比和信號(hào)噪聲失真比等參數(shù),而傳遞特性的測(cè)試系統(tǒng)只能測(cè)試傳遞特性等,具有適應(yīng)性比較差、使用不方便等缺點(diǎn)。針對(duì)這些缺點(diǎn),本文開(kāi)發(fā)了一套由軟件分析程序和測(cè)試儀器構(gòu)建的綜合性能測(cè)試系統(tǒng)。在該系統(tǒng)中,測(cè)試程序?qū)煞N測(cè)試分析方法綜合到一起,采用了碼密度測(cè)試法測(cè)試靜態(tài)特性參數(shù)、測(cè)試法測(cè)試動(dòng)態(tài)特性參數(shù)。在測(cè)試程序中,這些測(cè)試方法只是數(shù)學(xué)分析算法上的不同,硬件基本一致。因此可很方便的根據(jù)外加測(cè)試條件的不同而一鍵選擇不同的測(cè)試方法。

        1.2.1 碼密度測(cè)試法

        該方法通過(guò)統(tǒng)計(jì)學(xué)的原理,對(duì)輸入正弦波情況下的輸出數(shù)字碼進(jìn)行振幅域的分布統(tǒng)計(jì)。圖1就是通過(guò)這種方法生成的浴盆曲線(xiàn)。


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