VDMOS器件損傷的DC/DC轉(zhuǎn)換器輻射預(yù)兆單元設(shè)計(jì)
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由于電路采用抗輻射加固設(shè)計(jì)，其他器件輻射損傷對(duì)輸出影響不大，仿真結(jié)果沒有變化，在此不再給出仿真結(jié)果。航天用DC／DC轉(zhuǎn)換器工作在很大的溫度范圍內(nèi)，預(yù)兆單元溫度變化仿真結(jié)果，如圖6所示，輸出電壓不受影響，跳變點(diǎn)微小變化對(duì)報(bào)警影響不大。仿真結(jié)果證實(shí)所設(shè)計(jì)的預(yù)兆單元電路和預(yù)警方案是合理可行的。
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4 結(jié)束語
文中把預(yù)警和健全管理(PHM)方法用于DC／DC轉(zhuǎn)換器抗輻射可靠性研究，研究了VDMOS器件和DC／DC轉(zhuǎn)換器之間的輻射損傷關(guān)系。結(jié)合輻射損傷關(guān)系和預(yù)兆單元技術(shù)原理設(shè)計(jì)了基于VDMOS器件損傷的DC／DC轉(zhuǎn)換器輻射預(yù)兆單元，仿真結(jié)果證實(shí)所設(shè)計(jì)的預(yù)兆單元可以對(duì)DC／DC轉(zhuǎn)換器輻射損傷失效提前報(bào)警。
評(píng)論