單片機系統中RAM的測試方法研究

2 基于種子和逐位倒轉的RAM測試方法

基于種子和逐位倒轉的測試方法是在方法3的基礎上進一步改進獲得的。方法3主要是使用全O和全1兩個背景數來移位展開的，與MARCH—G算法相比獲得的故障覆蓋率稍微低些，但使用了較少的地址單元。這里我們把方法3中的背景數稱為“種子”。以地址線為8根的RAM為例，種子分別取00000000和11111111兩個數，取00000000、11111111、0000llll和llll0000四個數，以及取00000000、11111111、00001111、11110000、00110011、1100llOO、01010101和10101010八個數來移位展開測試，所達到的故障覆蓋率是不一樣的。種子數為2的改進方法要低于MARCH—G算法的故障覆蓋率，種子數為4的改進方法與MARCH—G算法相當，種子數為8的改進方法能夠超過MARCH—G算法的效果。整體上基于種子和逐位倒轉的改進方法是可以代替MARCH—G算法的，但是種子數目不同所需要的尋址次數也是不同的。設地址線為n根，種子數為2時需要訪問RAM共計4”+4次，種子數為4時需要訪問RAM共計8n+8次，種子數為8時需要訪問RAM共計16n+16次，而MARCH—G算法需要訪問RAM共計6×2n次。可見，基于種子和逐位倒轉的改進方法比MARCH—G算法的測試時間開銷大大降低。同時，故障覆蓋率會隨著種子數目的增加而提高，當然不同種子數時所需要的測試時間開銷也不同。在實際測試應用中要根據測試時間和測試故障覆蓋率的需求來選擇合適的種子數目，才能達到滿意的效果。

結 語

本文介紹了單片機系統RAM測試的一般方法，并在原有基礎上提出了一種基于種子和逐位倒轉的RAM故障測試方法。它具有診斷耗時短、故障覆蓋率高的特點，因而有著很高的應用價值。