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高頻鎖相環的可測性設計

作者：時間：2012-02-23 來源：網絡

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0px">　　本文將基于IEEE1149.1標準的邊界掃描技術應用于模擬電路可測性設計中，對一款高頻 鎖相環提出了測試方案，并給出了相應的測試電路。并對采用該方案進行測試的高速鎖相環在增加測試電路前后電路的仿真結果進行了比較。結果表明，本文所提出的高頻 鎖相環測試方案對鎖相環本身的功能影響很小。

　　參考文獻

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