高頻鎖相環的可測性設計
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提出了測試方案，并給出了相應的測試電路。并對采用該方案進行測試的高速鎖相環在增加測試電路前后電路的仿真結果進行了比較。結果表明，本文所提出的高頻鎖相環測試方案對鎖相環本身的功能影響很小。參考文獻
1］Prashant Goteti，Giri Devarayanadurg, Mani Soma? DFT for Em bedded Chargepump Systems Incorporating［J］. IEEE1149.1IEEE,1997, C ustom Integrated Circuits Conference, 1997：210-213
2］IEEE S
3］Michael L Bushnell, Vishwani?Agrawal Essenentials of E lectronic Testing for Digital, Memory and Mixedsignal VLSI Circuits［M］.Kluwr Aca demic Publishers, 2000
4］于宗光.IEEE 1149.1標準與邊界掃描技術［J］.電子與封裝，200 3，3（5）：40-47.
5］成立，王振宇，高平，等.VLSI電路可測性設計技術及其應用綜述［J］.半導體技術，2004，29（5）：2024.
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