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        應對八天線LTE測試的挑戰(zhàn)(一)

        作者: 時間:2013-09-30 來源:網(wǎng)絡 收藏
        LTE系統(tǒng)使用了先進的天線技術,測試中所用的建模信道必須重現(xiàn)這些技術中所用信道的實際物理特性。如果在仿真結果中不能將所有的細節(jié)都囊括在內,則有可能建立不正確的基準,從而無法對真正的系統(tǒng)性能進行評價。例如,極化會影響用戶設備接收到的信號功率。與無極化的案例相比,接收到的信號功率明顯較低。這種由于極化直接造成的損失取決于用戶設備與eNodeB天線陣列之間的相對方向。

          天線模式也對信號強度有直接的影響。接收信號的功率會隨信號行進方向的不同而有所變化。由于每種可能的場景都有一系列獨特的離去角(AoD),因此功率也會隨方向的不同而有所變化。當天線模式和極化結合在一起時,這個問題會變得更難應付。下表顯示的雙信道場景下不同組合造成的功率損失。表中的“X”代表一個交叉極化天線對,而豎線(||)代表的是無極化的天線組件。

        表:極化和天線模式對接收功率產生的影響
        表:極化和天線模式對接收功率產生的影響

          動態(tài)場景:對于一種波束賦型系統(tǒng)而言,僅在靜態(tài)(非移動)條件下進行測試是遠遠不夠的。波束賦型基本上包含兩個步驟:估計用戶設備的方向,以及將波束指向該方向。當用戶設備移動時,它(相對于eNodeB天線陣列)的方向也會改變。在理解系統(tǒng)性能的過程中,這種現(xiàn)象會帶來兩個基本的問題:系統(tǒng)跟蹤用戶設備移動的速度有多快,以及系統(tǒng)的性能會因此受到怎樣的影響?為了解答這些問題,我們必須使用能夠代表實際運行條件的動態(tài)場景來對波束賦型系統(tǒng)進行測試。


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        關鍵詞: 八天線 LTE測試

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