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基于HMC704LP4的一種X波段跳頻源設計方案（二）

作者：時間：2013-11-16 來源：網絡

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間，進一步減小跳頻時間。利用SCLK上升沿將數據、寄存器地址、芯片地址碼依次通過SDI送給PLL內部的移位寄存器后，令SEN變為高電平將移位寄存器中的數據所存至相應鎖存器中，鎖相環進入相應頻率鎖定過程。跳頻時，改變頻點只用改變N整數寄存器和N小數寄存器即可。

　　4 測試結果與結論

　　采用Agilent頻譜儀N9030A和信號源分析儀E5052B分別對該跳頻源的雜散、相噪和跳頻時間進行測試。相位噪聲測試曲線如圖3所示，測試頻率為10.47 GHz，相噪指標為-96dBc/Hz@1kHz;雜散測試如圖4、圖5所示，測試頻率為10.44 GHz，圖4為近端雜散、圖5為遠端雜散。雜散優于-70dBc.跳頻時間測試的是9.9 GHz到10.93 GHz的跳頻時間，約為36 μs.

　　基于HMC704LP4的一種X波段跳頻源設計方案（二）

　　該跳頻源高于指標要求，體積為60x40×19mm3，且性能穩定可靠。經驗證該設計方案可應用于同類型的頻率頻率源設計當中去，具有實際的指導意義。

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關鍵詞： HMC704LP4 X波段 跳頻源

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