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        電子可靠性技術:最壞情況分析方法(一)

        作者: 時間:2013-11-30 來源:網絡 收藏
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          圖2:典型值為1,200uF的電容的最壞情況器件參數變化。

          下面對圖1中的帶通濾波器進行案例分析,給出WCCA分析的性能和結果。對電路的中心頻率放大器增益進行分析。假設U6是一個理想放大器(RIN=∞, ROUT=0, AVOL=∞),不考慮它,電路的放大增益計算公式如下,Eq1

          性能要求Af0最小值為7V/V,電阻和電容的典型值和初始容差如下:

        電子可靠性技術:最壞情況分析方法(一)
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          將器件的典型值代入Eq1得到Af0=11.08V/V,顯示結果是滿足要求的。如果考慮較差的情況,代入每個器件參數的初始容差(±1%),得到Af0=7.84V/V,也在要求范圍內。必須注意,器件電阻和電容的初始容差是電路在典型設計和分析時經常采用的,但是,這些值并不表示電路在實際環(huán)境中的真正情況。

          最壞情況器件參數變化庫

          器件供應商設定器件的初始容差(采購容差),這僅僅保證器件在采購時,所有器件的各個批次都在初始容差范圍內,并不保證器件參數會一直在這個容差范圍內。器件在工作環(huán)境中,其參數會偏移初始值。在許多情況下,特別是在長時間使用后,器件參數偏移會大于初始容差。每種可能的最大偏移都累加在初始容差上,如圖2所示。

          

        電子可靠性技術:最壞情況分析方法(一)

          圖3:電阻和電容的最壞情況最大最小值。

          WCCA是假設器件使用后,其參數已經處在初始容差值。同時又假設電路中的所有器件同時處于最大偏移值。雖然這種情況似乎不可能發(fā)生,但它是可能存在的一個最壞情況。比較可能的情況是一些器件的部分參數超過了初始容差,但不會都達到最大偏移值。如果在最壞情況下,所有器



        關鍵詞: 電子 可靠性

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