R&S RTO示波器提供支持5Gbps高速串行接口的新測試選件

　　高速串行通訊接口，例如SuperSpeed USB和PCIe，已經進入很多電路設計。開發人員需要方便易用的工具來支持此類接口的電路調試。羅德與施瓦茨公司推出了針對此類應用緊湊完整的測試方案。該方案由R&S RTO2064示波器、支持眾多接口標準的測試選件以及R&S RT-ZM寬帶模塊化探頭組成。最新的測試選件支持SuperSpeed USB (USB3.1 Gen1)、PCIe 1.1/2/0和USB-PD協議觸發和解碼，同時支持PCIe 1.1/2.0的一致性測試。

　　詳實的協議分析，細節一目了然

　　全新的觸發和解碼選件幫助用戶輕松發現SuperSpeed USB、PCIe 2.0和USB-PD傳輸中的錯誤。這些選件可以對用戶定義的協議事件進行觸發和解碼，借助R&S RTO2000系列示波器完成與協議觸發事件時間相關的時頻域測試分析，使故障原因一目了然。分析結果也可通過具備協議細節和相關時間標簽的表格顯示。同時，全新選件還具備對不同協議層進行分析的能力。例如，為了追溯協議錯誤到最底層的bit層，用戶可以選擇Bit位顯示、符號顯示或具有特定幀起始、地址和數據的協議顯示。利用這一強大工具，用戶可以實現快速的協議調試和分析。

　　PCIe 1.1/2.0物理層一致性測試

　　針對PCI Express，羅德與施瓦茨公司擴展了一致性測試套件支持PCIe 1.1/2.0標準。分析軟件基于PCI-SIG標準，支持標準定義的信號完整性分析。測試選件可實現高達2.5Gbps信號的物理層一致性驗證。

　　全新的R&S RTO-K61 USB3.1 Gen1協議觸發和解碼、R&S RTO-K72 PCIe 1.1/2/0協議觸發和解碼以及R&S RTO-K81 PCIe 1.1/2.0物理層一致性測試選件支持6GHz 帶寬RTO2064示波器。同時還推出了R&S RTE/RTO-K63 USB-PD協議觸發和解碼選件。上述選件于2017年3月14日開幕的Embedded World 2017紐倫堡國際嵌入式應用展覽會上正式發布。