測試LTE從哪里開始？

　　請記住，在生產中我們僅僅想要確定的是DUT是“好”還是“壞”。一旦識別它是“壞”的，可以將這個DUT放在一邊，進行進一步的檢查和修理。如果隔離問題會顯著增加測試時間，那么就不需要也不應該讓生產線去采用這些隔離問題所需的測試。

　　然后，可以合乎邏輯地刪除測試表中的配置3或8，因為它們提供的測試范圍相似。這些類型的重復在整個測試計劃中經常出現。雖然有些重復可能是需要或是必要的，但卻不應造成浪費。
　

　　壓縮測試計劃

　　看到原始的測試計劃時，壓縮就是用來將其改進以供在Iqxstream上執行的一個合適術語。總測試時間將很大程度上由測試配置數決定。并且，通過將分析部分與數據捕獲分開，我們能夠以最小的成本完成比給定捕獲多得多的測量。因此，我們的目標應該是在減少測試配置數的同時，針對每次捕獲完成更多的測量。讓我們瀏覽一下這種壓縮操作（表5）。

　　表5：LTE測試計劃縮減

　　手機中的各種調制方案在電路上一般采用不同的數據通路。因此，盡管我們想要在手機中檢查所有的調制方案，但很可能卻不需要驗證所有的變化。其原因是它們一般在數字域中產生，且不受模擬量變化的影響。

　　讓我們從挑選絕對想要保存的配置開始。配置1、12和20考察了調制和RB分配的極端情況，配置4提供了一種適中且可能典型的RB分配測試。這4個配置是符合邏輯的候選項，應予以保留。

　　對于TX質量測量，重點一般應放在最大功率的測量上，因為這些測量一般對大功率電路是最大的挑戰。如果從頻帶/信道的一個邊緣到另一邊緣會有輸出功率的變化，它們就會在單RB配額測量中顯示出來。因此，具有最大RB偏移的配置3也應作為配置1的最小RB偏移的補充而加以保留。

　　配置2是需要被削減的候選項，因為它僅測試了信道的中間RB偏移。因為模擬問題本身通常將在整個頻帶或在頻帶邊緣顯示出來，所以這種中間測量幾乎沒有什么價值。

　　采用配置1和3在不同RB偏移的頻帶邊緣測試了模擬量的變化。因此，我們可以安全地取消配置8到11，因為它們與配置4到7只是在RB偏移上有所差異。

　　配置20代表了PA和其他大功率電路上壓力測試的一種形式，而配置21實際上代表了最高速率運行的最現實的情況。最高速率運行只有在靠近基站時才有可能發生，因此，一般情況下PA會設定在低功率設置。我們應至少在低功率狀態下完成一次TX質量測量，因為功率放大器在其最大功率設置以下的 63dB將會以非常不同的模式運行。因此，配置21仍然是一種很有價值的測試配置。

　　配置14和15可用來測試特定的絕對功率設置能力，但前提是這種能力應當在任何中間功率測量都可能進行的整個運行范圍內始終適用。因此，我們將保留配置5作為設置中間功率電平能力的測量，而刪除配置14和15。

　　讓我們瀏覽一下余下的配置，看看還剩下哪些。

　　配置6和7分別將功率降低到-30dBm和-40dBm，但是沒有理由相信這些測試的更簡單調制和更低RB配額，會揭示出任何配置21的更復雜波形沒有發現的問題，并且-30dBm和-40dBm之間也不會有很大的差異。所以這些測試可以被去除。

　　測試配置13也有同樣的理由。這也是比測試21更簡單的配置。

　　測試配置16、17、18和19也是相同情況。這些測試針對在16QAM運行的更簡單的12RB配額，驗證了RB偏移和功率變化下的運行。在前文已經驗證了配置1和3中不同的RB偏移，而調制方案在配置20和21中得到證實。所以這四種測試成為了刪除的候選項。

　　在這個過程中，我們去除了大量的測試配置，但是如前文所述，我們看到的是一個稀疏的測試矩陣。由于向特定測試配置增加測量幾乎或根本不會產生任何相關成本，那么就讓我們來填補其中的一些空白。

　　測試計劃表（表6）中加入了更多的測試并進行了少許進一步調整。

　　表6：壓縮測試計劃調整

　　本文小結

　　生產測試的主要目標是盡可能多地測試移動設備，發現制造缺陷，同時最大程度地縮短測試時間。為達到這一點，利用IQxstream的“捕獲一次，測量多個”能力，可以獲得測試速度以及整體測試范圍的顯著優勢。

　　相比以3GPP測試規范為中心的計劃，具有類似測試范圍的壓縮計劃的運行時間僅為其1/3。

　　就LTE等復雜的空中接口而言，在測試計劃開發中縮小每個參數的范圍，確認什么參數將對DUT造成壓力，并確定IC測試和實驗室測試已經證實鎖定到數字設計中的參數非常重要。

　　IQxstream在對比討論生產測試與更加常見的實驗室測試環境時，代表著全新的價值主張。其多DUT功能和“捕獲一次，測量多個”能力結合將數據捕獲與分析相分離的架構，令制造環境的處理量和靈活度達到了前所未有的水平。