2602型源表應用測試類型（三）

TEC測試和控制

許多激光二極管模組配備了半導體制冷器（帕爾貼器件）。一般地，可以用TEC控制器在LIV測試掃描中控制整個模組的溫度。還可以調節溫度設定點來對TEC的功能進行校驗，并可在達到新的設定溫度之后檢驗熱敏電阻的阻值。

過大的機械剪切載荷可能是最常見的帕爾貼器件失效機理。在傳送和安裝帕爾貼器件過程中，機械剪切載荷會導致器件的部分或全部元件的分層或破損。簡單的交流或反向直流電阻測試可以在安裝前后確定帕爾貼器件的質量。由于組成元件的自加熱效應以及隨之而來的熱偏移導致直流電阻測量結果并不準確。2510-AT型TEC 源表可以提供所需的雙極源電流和電壓測量，方便進行這項測試。

隔離測試

利用開關矩陣可以在激光二極管模組的各個組成元件中方便地進行隔離測試。舉例來說，熱敏電阻與激光二極管間的電隔離可以通過在熱敏電阻和激光二極管之間施加電壓，同時保持熱敏電阻和激光二極管各自的兩個端子上具有相同的電勢，來進行測試，上述措施可以避免電流流過各個元件本身。