SAS互連阻抗及回波損耗測試

傳統的時域參數如阻抗、時延差的測試需要基于采樣示波器的TDR測試功能；而傳統的頻域參數如插入損耗、回波損耗、串擾等S參數的測試需要矢量網絡分析儀。由于很多場合時域和頻域測試都是同時需要的，所以可以采用基于矢量網絡分析儀并擴展了TDR功能的一體化解決方案，如Keysight的ENA-TDR方案，其可以同時完成頻域、時域和眼圖的測量。測試方案如下圖所示。

基于矢量網絡分析儀的時域反射TDR功能操作類似傳統的基于采樣示波器的TDR儀器，但相對于傳統TDR，它有如下特點：

· 基于VNA的結構，內部很容易實現ESD保護電路，正弦波激勵信號在測量時會掃過VNA 的整個測量頻率范圍，測量結果從輸入與輸出信號的矢量比中得到。因此，即使保護電路會導致部分損耗，使用矢量比也可以消除這些損耗，從而確保測量精度不受影響可以確保產品的可靠工作，但采樣示波器TDR由于內部ESD保護電路會降低階越發生器的性能，采樣示波器TDR內部不使用ESD保護電路，所以非常容易因為ESD損壞。

· ENA-TDR的用戶界面經過重新設計，和傳統的TDR設備使用方式類似，使現在的數字工程師可以輕松、直觀地進行操作，使用戶可以同時進行時域阻抗和頻域S參數測量以及靈活地選擇參數。它能夠生成仿真眼圖，在互連測試階段不需要使用額外的碼型發生器，因此可以降低擁有成本。

· 由于基于采樣示波器的噪聲相對網絡儀來說較大，同時實現高動態范圍和快速測量具有一定難度，需要通過取平均法可以降低噪聲，但是這會影響測量速度。ENA-TDR 具有>100 dB 動態范圍，以觀察 DUT 的真實性能。可以識別極低電平信號，如差分器件的串擾和模式轉換。具有極低的噪聲，當IFBW 為 70 kHz 時，小于0.023 dBrms，用于精確和可重復的測量，基本可以忽略儀器自身的底噪聲成分。

· 現在很多規范比如說SAS要求測試Hot TDR，也就是在上電工作狀態下測試TDR，比如SATA要求測試MFTP下的阻抗，由于采樣示波器TDR采用寬帶接收機，在有輸入信號的情況下，需要加更多的平均以反映階約信號的反射特性，而網絡儀使用窄帶接收機，可以準確接受掃頻信號頻點，不需要加平均也可以正確接收并測量反射特性。