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        SAS的測試項目和測試碼型

        作者: 時間:2016-12-23 來源:網絡 收藏
        SAS規范定義了不同的測試點,以適應不同的測試內容的要求。這里面包括可以通過測試夾具測試到的測試點IT/CT以及在電纜或背板末端的IR/CR,在芯片內部的發射端在封裝之前的芯片Die上的測試點ET,以及接收端芯片經過均衡后的測試點ER。下圖是SAS12G規范里的測試點定義框圖

        根據SAS的測試規范要求,SAS測試包含3大部分內容:發射端信號質量測試、接收端抖動容限測試、互連阻抗和回波損耗測試。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/201612/333362.htm

        發射端信號質量測試,包括PHY,TSG,OOB測試,這部分主要是發射機的信號完整性方面的內容。PHY包括一般特性的信號質量,比如鏈路數據速率穩定度,及SSC(擴頻時鐘)特性;TSG包括發射機信號質量,比如共模參數,信號幅度、VMA、WDP、邊沿時間和抖動參數;OOB測試主要是測量進行鏈路初始化時的OOB(out-of-band帶外信令)的幅度/共模等參數特性,詳細測試項目如下:

        ·Test 5.3.1: Physical Link Rate Long Term Stability

        ·Test 5.2.1: SSC Modulation Frequency

        ·Test 5.2.3: SSC Modulation Deviation and Balance

        ·Test 5.2.4: SSC DFDT (Informative)

        ·Test 5.3.2: Common Mode RMS Voltage Limit

        ·Test 5.3.3: Common Mode Spectrum

        ·Test 5.3.4: Peak-to-peak Voltage

        ·Test 5.3.5: VMA and EQ (Informative)

        ·Test 5.3.6: Rise and Fall Times

        ·Test 5.3.7: Random Jitter (RJ)

        ·Test 5.3.8: Total Jitter (TJ)

        ·Test 5.3.9: Waveform Distortion Penalty (WDP)

        ·Test 5.1.2: Maximum Noise During OOB Idle

        ·Test 5.1.3: OOB Burst Amplitude

        ·Test 5.1.4: OOB Offset Delta

        ·Test 5.1.5: OOB Common Mode Delta

        SAS接收端抖動容忍度測試,主要是測試接收端對于抖動的容忍度。這部分測試項目不多,但確是測試最復雜,挑戰性最大的。

        ·Test 1.1 - Stressed Receiver Device Jitter Tolerance Test Procedure for Trained 12 Gbit/s

        SAS的互聯測試,主要針對是阻抗不平衡和回波損耗的測試,反映系統互連和端口匹配等特性,測試內容如下:

        ·TEST 5.4.1 - RX DIFFERENTIAL RETURN LOSS(SDD11)

        ·TEST 5.4.2 - RX COMMON-MODE RETURN LOSS (SCC11)

        ·TEST 5.4.3 - RX DIFFERENTIAL IMPEDANCE IMBALANCE (SCD11)

        ·TEST 5.4.4 - TX DIFFERENTIAL RETURN LOSS (SDD22)

        ·TEST 5.4.5 - TX COMMON-MODE RETURN LOSS (SCC22)

        ·TEST 5.4.6 - TX DIFFERENTIAL IMPEDANCE IMBALANCE (SCD22)

        對于上述測試內容, UNH-IOL提供了詳細的一致性測試文檔,可以參考https://www.iol.unh.edu/testing/storage/sas/test-suites,查閱對應的文檔。

        同時,SAS規范里還定義了多種測試碼型,在發射機測試、互連測試和接收機測試時有明確的測試碼型的要求,要求被測件能夠生成或者通過BIST方式生成,主要的測試碼型包括如下:

        ·HFTP(High Frequency Test Pattern)高頻測試碼型,1010101010 1010101010b,即重復的D10.2。

        ·MFTP(Middle Frequency Test Pattern)中頻測試碼型,1100110011 0011001100b,即重復的D24.3。

        ·LFTP(Low Frequency Test Pattern)低頻測試碼型,0111100011 1000011100b,即重復的D30.3。
        上述3個碼型主要用于測試發射機的性能參數測試。

        ·LBP(Lone-Bit Pattern)單獨位碼型,主要用于測試SATA性能。

        ·CJPAT(Compliant Jitter Tolerance Pattern),一致性抖動容忍度碼型

        ·SRAMBLE_0 Pattern主要用于測試SAS 1.5, 3 and 6 Gbps WDP性能

        ·IDLE dwords pattern主要用于SAS 12 Gbps測試,配合 SAS3_EYEOPENING script



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