低電壓檢測(cè)IC的復(fù)位電路

低電壓檢測(cè)IC的復(fù)位電路

? 當(dāng)內(nèi)建的低電壓復(fù)位電路的電壓與應(yīng)用規(guī)格不同時(shí)，可選用外部低電壓檢測(cè)IC 的復(fù)位電路。
? 可提供低電壓復(fù)位功能，需配合外部簡(jiǎn)易型RC 復(fù)位電路或高抗干擾RC 復(fù)位電路來(lái)達(dá)到完整的復(fù)位功能。
? RRES、CRES、RN 和CN 的建議數(shù)值與簡(jiǎn)易型RC 復(fù)位電路及高抗干擾RC 復(fù)位電路相同。
? CRES(針對(duì)簡(jiǎn)易型RC 復(fù)位電路)和CN(針對(duì)高抗干擾RC 復(fù)位電路)在PCB 板上的位置及布線要求與簡(jiǎn)易型RC復(fù)位電路及高抗干擾RC 復(fù)位電路相同。

內(nèi)部POR 電路和內(nèi)部低電壓復(fù)位電路
? 為加強(qiáng)MCU 的保護(hù)完整性，并簡(jiǎn)化外部應(yīng)用電路設(shè)計(jì)及成本，在MCU 內(nèi)部提供有上電復(fù)位(POR)電路和低電壓復(fù)位(LVR)電路。
? POR 電路主要是內(nèi)建一組低RC 時(shí)間常數(shù)的復(fù)位電路，具有上電時(shí)產(chǎn)生復(fù)位的功能。其對(duì)MCU 內(nèi)部的初始化動(dòng)作，除了TO 和PDF 旗標(biāo)被清為“0”之外，其余的狀態(tài)均與RES 復(fù)位相同。當(dāng)使用此復(fù)位功能時(shí)，因POR 時(shí)間常數(shù)較小，為了使POR 可以正常動(dòng)作，電源上升速度應(yīng)盡量要求快速。
? LVR 電路主要功能是當(dāng)VDD 小于特定電壓(視規(guī)格而定)，且持續(xù)時(shí)間大于1ms 時(shí)，LVR 將會(huì)被激活，其對(duì)MCU 內(nèi)部的初始化動(dòng)作與RES 復(fù)位相同