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        低電壓檢測IC的復位電路

        作者: 時間:2016-11-08 來源:網絡 收藏

        檢測IC的

        ? 當內建的的電壓與應用規格不同時,可選用外部低電壓
        ? 可提供復位功能,需配合外部簡易型RC 復位電路或高抗干擾RC 復位電路來達到完整的復位功能。
        ? RRES、CRES、RN 和CN 的建議數值與簡易型RC 復位電路及高抗干擾RC 復位電路相同。
        ? CRES(針對簡易型RC 復位電路)和CN(針對高抗干擾RC 復位電路)在PCB 板上的位置及布線要求與簡易型RC復位電路及高抗干擾RC 復位電路相同。

        內部POR 電路和內部低電壓復位電路
        ? 為加強MCU 的保護完整性,并簡化外部應用電路設計及成本,在MCU 內部提供有上電復位(POR)電路和低電壓復位(LVR)電路。
        ? POR 電路主要是內建一組低RC 時間常數的復位電路,具有上電時產生復位的功能。其對MCU 內部的初始化動作,除了TO 和PDF 旗標被清為“0”之外,其余的狀態均與RES 復位相同。當使用此復位功能時,因POR 時間常數較小,為了使POR 可以正常動作,電源上升速度應盡量要求快速。
        ? LVR 電路主要功能是當VDD 小于特定電壓(視規格而定),且持續時間大于1ms 時,LVR 將會被激活,其對MCU 內部的初始化動作與RES 復位相同



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