OLED顯示器的DC生產測試中顯示器的測試結果

為了說明實現這一測試方案所達到的結果，我們用四個源表的測試系統對一個48×64的OLED顯示器進行了正向電流、電阻和反向偏置的測量。測量速度被設定為1個NPLC(即，積分時間 = 16.7毫秒)，并有1秒的信號源延遲。該延遲可以保證在測試開始前信號達到穩定狀態。圖1給出了對一個認為有缺陷的顯示器的像素電阻的測試結果。測試數據表明幾乎所有的像素都有相對很高的“導通”電阻，即 > 100kΩ。其中的兩個像素有非常低的電阻，一個位于第3行第60列，測得的電阻約為1kΩ;另一個位于第4行第37列，測得的電阻在1kΩ與100kΩ之間。實際的動態電阻可以計算為：

Rd = Vpixel / Ipixel

式中的Vpixel和Ipixel分別是像素的電壓和電流。在2V偏壓下，典型的像素電流大約為20nA，這相當于一個108Ω的動態電阻。因此，這兩個動態電阻位于1kΩ與100kΩ之間的像素看來是有缺陷的。

圖1. 電阻與像素的關系圖，所加的偏壓為Vbias = 2V

圖2示出了另一個顯示器的正向電流損耗與像素之間的關系，其中的Vbias = 6V。幾乎所有的像素都表現出大約11-13μA的正向電流損耗。對2400型源表設定了1mA的正向電流限值(compliance)或保護電流值，以防止對顯示器流過太大的電流而造成損壞。

圖2. 電流消耗與像素的關系圖，所加的偏壓為Vbias = 6V

為了對測試系統中每一個信號通路的漏電流的殘余測量誤差進行測量，就需要把一塊尺寸與OLED顯示器完全一樣的玻璃片插入測試夾具內。然后在施加Vbias = -6V的偏壓后作一次掃描。圖3給出了這個掃描的結果。在任何一個像素位置上的電纜、繼電器和測試夾具的漏電流總和均小于80pA。在這些測試中，還考慮到了每個2400的“零點誤差”;所謂“零點誤差”是指在0V偏壓下的電流偏離值。

圖3. 測試系統的殘余漏電流與像素的關系圖，所加的偏壓為Vbias = -6V

圖4給出了在Vreverse = 6V下的反偏測量的結果。對于這個測試，我們把積分時間設置為10 NPLC，把信號源延遲時間設置為15秒。

圖4. 一個48×64顯示器的反偏電流與像素的關系圖，其中Vreverse = 6V