EMC 預測試技術是保證產品質量不可少的手段

（b）為EMI預兼容測試系統示意圖

⑵ 主要特征
最寬頻率范圍的近場測試工具：50kHz-4GHz，具有頻譜掃描、空間掃描、頻譜/空間掃描，天線掃描等功能；具有單次掃描、連續掃描、同步掃描等方式，具有峰值保持功能；
高速掃描，利用連續掃描和峰值保持功能，能捕捉到一般手段所無法測量到的瞬態電磁干擾；頻譜/空間掃描能一次測量獲取被測物完整電磁場信息，能迅速準確定位電磁干擾源；全方位測量任意體積和重量的被測物，包括PCB、電纜、機箱、機架等；呈人字形交叉排列的專利電磁場陣列掃描器，能測量各個方向的電磁場；功能強大的后臺分析和處理能力，可以把測量結果和PCB的光繪文件疊加在一起顯示。
⑶ EMI預兼容測試功能
圖2（b）為EMI預兼容測試系統示意圖。配套LISN(線路阻抗穩定網絡)/電流探頭/吸收鉗/天線等附件后，EMSCAN能進行準確、高效的EMI預兼容測試，具有背景信號自動識別功能，特別適合企業在普通實驗室進行精確的EMI預兼容測試。
EMSCAN控制軟件的ASM(天線掃描模塊)，用于電磁預兼容測試。能依據CISPR 11/14/15/22/25/GJB152A-CEl02進行傳導發射測試。依據CISPR 11/14/22/25/GJB1 52A-REl02進行功率或者輻射發射測試。

4.2 Langer近場探頭.
這是電磁兼容工程師必備的基本工具，多達19個各種形狀的探頭，可以完成幾乎所有的電磁場測試任務：具有多種分辨率的探頭，實現從粗略定位到精細定位；低成本高性能；頻率范圍覆蓋100kHz-3GHz；適用于檢查機箱泄漏、PCB內部電磁場分布、電纜上的電磁場分布等；使用簡單，攜帶方便。
近場探頭的用途：主要應用于查找干擾源，判定干擾產生的原因；可以檢測器件或者是表面的磁場方向及強度；可以檢測磁場耦合的通道，從而調整連接器或者元器件的位置；可以檢測PCB附近的磁場環境。
為了降低干擾，尋找到真正的干擾源或者是其傳播的途徑是非常有必要的。通過近場測量可以很方便的實現定位的功能，甚至可以精確到IC引腳以及具體的走線。圖3（a）所示為環形探頭，分辨率從1mm到25mm，適合檢測機箱泄漏、電流方向等，檢測電纜及元器件連接處等產生的磁場。圖3（b）所示為檢測IC引腳的磁場分布，檢測IC下面或寬導體的圓形磁場。

圖3（a）環形探頭 ； （b）為檢測IC引腳的磁場分布示意

4.3 虛擬暗室EMC測量系統(無需暗室/屏蔽室)
如果想在普通環境下測量被測設備(EUT)的電磁輻射，就必須設法“消除”背景噪聲的影響。當今己開發出多種虛擬暗室EMC測量系統，值此以CASSPER虛擬暗室系統為例作新概念說明。
當今的虛擬暗室系統，是最新的EMI測試系統。它具有獨一無二的頻率同步及相位鎖定功能，是一個雙通道、多端口EMI接收機，符合CISPR-16標準要求。
其虛擬暗室系統接收機使用兩套時間與頻率都同步的通道同時去接收一個復雜系統中的信號，用來進行電磁發射的測量和電磁干擾源的定位。虛擬暗室系統把先進的數字信號處理技術(DSP)引入到了EMI測量中，能通過算法準確濾除背景噪聲，得到被測設備(EUT)實際的準確的電磁輻射情況。CASSPER不僅能濾除一般的背景噪聲，還能精確提取與背景噪聲相同頻率的EUT信號。即使背景噪聲的幅度或者頻率被調制了，其背景噪聲濾除性能也不會下降。虛擬暗室系統也能濾除來自多個地方的背景噪聲。能在市內區域精確測量電子設備的電磁發射。
⑴ 系統組成
系統由雙通道EMI接收機、高性能計算機、雙通道高速DSP卡(內置于計算機)、天線、近場探頭以及測量軟件等組成，見圖4(a)所示。
從圖4(a)可見該系統的接收機有A/B兩個通道，每個通道都在接收機的前面板上設有2至4個端口，不同頻段的天線可以接到不同的端口上，系統可以對不同頻段的天線進行自動切換。接收機把收到的信號經過中頻處理后，由AD變換器轉換為數字信號，再由計算機內部的高速雙通道DSP卡對兩個通道的數據按照有專利技術的算法進行數據處理，最終由計算機進行分析、存儲、顯示、打印等處理。

圖4 (a) 虛擬暗室EMC測量系統；

(b) “時間/頻率/相位”同步識別技術應用示意圖

⑵ 普通環境下的電磁預兼容測試
在被測設備(EUT)的前方一定距離(d)處放置一天線并連接到通道A，負責接收來自EUT以及背景共同作用的信號。另外一個天線則放置在離EUT較遠的地方，其距離至少是d的十倍，并連接到通道B，負責測量來自整個背景的噪聲情況。