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        導(dǎo)電聚合物薄膜電阻率測(cè)量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

        作者: 時(shí)間:2011-05-03 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

        1.3 電流的限制
        半導(dǎo)體材料電阻率測(cè)量時(shí)對(duì)流過(guò)樣品的電流有比較嚴(yán)格的要求:
        (1)電流不能過(guò)小,以確保內(nèi)側(cè)探針間電壓可測(cè);
        (2)電流不能過(guò)大,以減小熱效應(yīng)對(duì)樣品電阻率的影響;
        (3)測(cè)量較大電阻率樣品時(shí),應(yīng)該減小注入電流,以減小少子注入的影響。
        流通電流影響樣品電阻率值,但是通常電阻率不受電流影響的范圍是很廣的,根據(jù)這個(gè)范圍的界限可以得出安全操作電流。
        本方法中流經(jīng)測(cè)試樣品的電流:
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        2 系統(tǒng)設(shè)計(jì)
        系統(tǒng)采用LPC2148 ARM7芯片為數(shù)學(xué)運(yùn)算和控制的核心單元,系統(tǒng)結(jié)構(gòu)如圖3所示。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/194975.htm

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        2.1 控制處理單元
        控制處理單元包括LCD液晶顯示電路、鍵盤(pán)輸入電路、串口通信電路、反饋控制電路1和2和微控制器。預(yù)置限流電阻Rc用于限定小電阻率材料測(cè)量時(shí)通過(guò)的電流,流過(guò)的電流可由式(9)計(jì)算得出。全量程范圍內(nèi)可保證測(cè)量電流小于2 mA。各參數(shù)與檔位如表1所示。

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        2.2 信號(hào)調(diào)理單元
        包括可控恒壓產(chǎn)生電路、差分放大電路、比率測(cè)量電路和模數(shù)(A/D)轉(zhuǎn)換電路。恒壓源采用ADR01,產(chǎn)生10 V的基準(zhǔn)電壓輸出,進(jìn)一步得到0.1 V和0.01 V的基準(zhǔn)信號(hào);圖2中內(nèi)側(cè)兩探針間電壓的測(cè)量采用AD620差分放大電路及高精度運(yùn)放AD546,通過(guò)反饋控制電路2調(diào)節(jié)增益電阻RG來(lái)改變輸出信號(hào)的幅度;模/數(shù)轉(zhuǎn)換電路采用16位的∑-△型AD7705,使用3.401V參考電壓時(shí)測(cè)量分辨率到達(dá)52μV/LSB。如圖4所示。

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