光電跟蹤檢測調試儀的研制方案介紹
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2 檢測調試儀設計 本文引用地址：http://www.104case.com/article/193883.htm
2.1 硬件設計
如圖2所示，單片機通過讀取外來信號D0—D5，程序內部判斷后對鎖定機構進行加鎖或解鎖控制，控制信號通過SN54LS245驅動后，控制圖3中繼電器的吸合來控制電機工作。沒有加解鎖控制信號或到位信號輸入時，繼電器K1、K2、K3、K4都處于3、4和9、10導通狀態;當信號控制時，繼電器K1、K2、K3、K4處于4、5和8、9導通狀態。
下面以加鎖為例來說明調試儀的工作過程。
當信號D0-D5為10000時，單片機通過P10口對方位鎖定機構發出加鎖命令，控制命令經SN54LS245驅動后作用于R9和VQ1，VQ1導通后，繼電器K2的4、5導通，輸出+28 VLOCK信號控制電機進行加鎖。完全鎖定后，光電開關輸出(上)信號輸出高電平即圖3中STOP+，STOP+通過上拉電阻R16作用于R10和VQ2，VQ2導通后，繼電器K3的4、5和8、9導通，+28 V LOCK信號切斷，硬件上先停止加鎖控制，防止造成機構硬件損傷。而K3的8、9導通后，FWH+輸出+5 V電平給單片機，單片機接收信號后，終止加鎖命令，VQ1截止，K3恢復常態。解鎖過程和加鎖過程類似，在此不作贅述。
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