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這幾種調(diào)試接口區(qū)別（JTAG、SWD、RDI、Jlink、Ulink、STlink）
- 01?JTAG協(xié)議JTAG（Joint Test Action Group，聯(lián)合測試行動小組）是一種國際標(biāo)準(zhǔn)測試協(xié)議（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片內(nèi)部測試。現(xiàn)在多數(shù)的高級器件都支持JTAG協(xié)議，如ARM、DSP、FPGA器件等。標(biāo)準(zhǔn)的JTAG接口是4線：TMS、?TCK、TDI、TDO，分別為模式選擇、時鐘、數(shù)據(jù)輸入和數(shù)據(jù)輸出線。相關(guān)JTAG引腳的定義為：· TMS：測試模式選擇，TMS用來設(shè)置JTAG接口處于某種特定的測試模式；· TCK：測試時鐘輸入；· TDI：測試
- 關(guān)鍵字： 調(diào)試 接口 JTAG SWD RDI Jlink Ulink STlink
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