門電路延遲時(shí)間的Multisim仿真測試方案

　　仿真時(shí)示波器顯示的波形及振蕩周期測試如圖2所示。

　　測試的振蕩周期T = 102. 2 ns，則傳輸延遲時(shí)間tpd= T/ ( 2N ) = 102. 2/ 10= 10. 22 ns，結(jié)果與設(shè)定值基本一致。

圖2 圖1 電路輸出波形及振蕩周期測試

　　1. 2 測試方案2

　　將奇數(shù)個(gè)門首尾相接構(gòu)成環(huán)形振蕩電路，用虛擬示波器測試其中一個(gè)門的輸入信號、輸出信號波形及延遲時(shí)間。

　　以反相器74LS04N 作為仿真實(shí)驗(yàn)器件，構(gòu)建仿真實(shí)驗(yàn)電路如圖3 所示。

圖3 測試方案2 的仿真實(shí)驗(yàn)電路

　　仿真前，可對74LS04N 的上升延遲時(shí)間及下降延遲時(shí)間進(jìn)行設(shè)置，如設(shè)置r ise delay= 10 ns，fall delay=10 ns。

　　仿真時(shí)示波器顯示的輸入信號、輸出信號波形及延遲時(shí)間測試如圖4 所示。

圖4 圖3 電路輸入、輸出波形及延遲時(shí)間測試

　　測試的傳輸延遲時(shí)間tpd = 11. 1 ns，測量結(jié)果與設(shè)定值基本一致。