基于Multisim 10的差動放大電路仿真分析

　　4 溫度掃描分析

　　溫度掃描分析用來研究溫度變化對電路性能的影響，相當(dāng)于在不同的工作溫度下進行多次仿真。

　　圖1差動放大電路設(shè)置為交流信號輸入方式，設(shè)置正弦波輸入信號頻率為1 kHz、幅值為10 mV，依次執(zhí)行Simulate／Analyses／Tempera-ture Sweep(溫度掃描)命令，設(shè)置掃描方式為List(取列表值掃描)，設(shè)置掃描溫度為0℃，27℃，120℃，設(shè)置輸出節(jié)點為u01得到如圖3(b)所示溫度掃描分析結(jié)果。隨著溫度的升高，T1管的輸出電壓幅值變小。可見，故溫度變化會影響單管放大電路的靜態(tài)工作點。

　　由于溫度的變化與T1，T2參數(shù)的變化相同，集電極靜態(tài)電流、電位的變化也相等，故輸出電壓u0的變化為零，可將溫度變化等效為共模信號，因此差動放大電路對溫度變化產(chǎn)生的“零點漂移”具有抑制作用。

　　5 動態(tài)參數(shù)分析

　　圖1電路的差模電壓放大倍數(shù)Aud與單管共射電路相同，且Aud由輸出方式?jīng)Q定，而與輸入方式無關(guān)。

　　計算雙端輸出差模放大倍數(shù)為：

　　5．1 傳遞函數(shù)分析

　　依據(jù)傳遞函數(shù)分析可計算電路中輸入源與兩個節(jié)點的輸出電壓或一個電流輸出變量之間的直流小信號傳遞函數(shù)，同樣可以用于計算輸入和輸出的阻抗。

　　將圖1電路分別設(shè)置為直流差模、直流共模信號輸入方式，依次執(zhí)行Simulate／Analyses／Transfer Function Analysis(傳遞函數(shù)分析)命令，設(shè)置V3為輸入電壓源，設(shè)置輸出節(jié)點為u01，分別得到如圖4(a)，4(b)所示傳遞函數(shù)分析結(jié)果。由圖4測得Aud1=-12．4，Auc1=-0.64，所測參數(shù)與式(5)、式(6)分析結(jié)果基本一致。

　　5．2 直流信號測試

　　撥動開關(guān)J1，J2，在圖1電路中兩輸入端加入直流差模信號ui1=+0．1V，ui2=-0．1V，通過數(shù)字萬用表測得uo1=2．246V，uo2=7.115V。計算Aud=(2．246-7．115)／0．2=-24．345，Aud1=(2．246-4．68)／0．2=-12．17，Aud2=(7．115-4．68)／0．2=12．175。在圖1電路中兩輸入端加入直流共模信號ui1=ui2=0．1 V，通過數(shù)字萬用表測得uo1=uo2=4．616 V。計算Auc1=Auc2=(4．616-4．68)／0．1=-0．64，Auc為零。直流信號測試參數(shù)與式(4)～式(6)分析結(jié)果基本一致。