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        Multisim10在負(fù)反饋放大電路實(shí)驗(yàn)中的應(yīng)用

        作者: 時(shí)間:2011-09-13 來源:網(wǎng)絡(luò) 收藏


        2 對(duì)帶寬的影響
        對(duì)放大器和基本放大器負(fù)載開路時(shí)的通頻帶進(jìn)行分析。單Simulate/Analysis/AC analysis(交流分析)按鈕,選擇待分析的輸出電路節(jié)點(diǎn)V可得到如圖7、圖8所示的幅頻特性曲線。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/187327.htm

        e.jpg


        由仿真結(jié)果可得放大器BW=2.36MHz,基本放大器BW=195.76kHz,負(fù)反饋電路對(duì)通頻帶進(jìn)行了拓寬。

        3 結(jié)束語
        運(yùn)用multisim對(duì)負(fù)反饋放大器實(shí)驗(yàn)進(jìn)行仿真分析得到的結(jié)果與理論分析一致,與傳統(tǒng)實(shí)驗(yàn)相比較具有以下優(yōu)點(diǎn):
        (1)傳統(tǒng)的負(fù)反饋放大器實(shí)驗(yàn)是在已經(jīng)焊接好的電路板上進(jìn)行操作,負(fù)反饋支路由開關(guān)控制,在分析基本放大器的性能參數(shù)時(shí),只是簡(jiǎn)單地切斷反饋支路的開關(guān),而沒有考慮到負(fù)載效應(yīng),但通過multisim可以清楚繪制出帶負(fù)載效應(yīng)的基本放大器,有助于學(xué)生對(duì)原理的理解和正確的分析。
        (2)運(yùn)用可以方便地搭建電路,改進(jìn)電路,并可以通過改變?cè)骷膮?shù)對(duì)電路性能指標(biāo)進(jìn)行仿真,觀察不同原件參數(shù)對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果的影響,并且減少在實(shí)驗(yàn)過程中對(duì)元件的損耗,學(xué)生通過對(duì)仿真過程的觀察,加強(qiáng)對(duì)理論知識(shí)的理解和掌握。


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