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        疊柵MOSFETs的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)與研究

        作者: 時(shí)間:2010-09-13 來(lái)源:網(wǎng)絡(luò) 收藏

        2.2 電容特性
        MOSFET而言,它的柵電容是G1和G2混聯(lián)后的電容,所以不能用單柵MOSFET柵電容的計(jì)算方法來(lái)計(jì)算結(jié)構(gòu)。注意到兩種結(jié)構(gòu)的MOSFET除了柵結(jié)構(gòu)不同外,其它參數(shù)都相同,我們可以利用單柵MOSFET的單位柵氧化層電容Cox來(lái)求解結(jié)構(gòu)柵氧化層電容。
        單柵長(zhǎng)溝道MOSFET的閾值表達(dá)式如式(1)所示

        17g.jpg

        疊柵MOSFET的閾值電壓與單柵NMOS的閾值電壓之差。這樣我們就得到了疊柵MOSFET單位面積柵氧電容的表達(dá)式。
        求解時(shí)用的還是表1的摻雜濃度,并且用到表2所得仿真結(jié)果。計(jì)算的具體值時(shí),我們?nèi)”?長(zhǎng)溝道時(shí)△VT(L=1.6μm),可得△VT=1.08V。而在長(zhǎng)溝道的條件下單柵NMOS單位面積的柵氧化層電容

        柵氧厚度tox=2.O×10-6cm(與模擬時(shí)所用的值保持一致),這樣就能得出

        17p.jpg

        與普通單柵NMOS相比,減少了27%,模擬結(jié)果與計(jì)算值基本一致。

        3 結(jié)論
        本文提出了部分疊柵結(jié)構(gòu)的的基本結(jié)構(gòu),分析了它們的柵電容、寄生電容等方面的優(yōu)點(diǎn),以及對(duì)短溝道效應(yīng)的顯著抑制效果。接著用MEDICI仿真驗(yàn)證了理論分析結(jié)果,說(shuō)明了疊柵MOSFET的優(yōu)越性,可用作射頻電路的MOSFE。

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