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        疊柵MOSFETs的結構設計與研究

        作者: 時間:2010-09-13 來源:網絡 收藏

        再利用MEDICI提取圖2中各自閾值電壓的值,見表2。在表2中我們可以看到同等條件下VT(stack)>VT,這時需要注意的是在溝道縮小到0.1μm時,單柵NMOS于短溝道效應的影響已經沒有閾值電壓了,MOSFET經失去了作用,而MOSFET則保持了一個比較合理的閾值,這已經證明了結構能有效的抑制短溝道效應。為了比較兩種結構的閾值電壓變化率,可調整NMOS的閾值電壓VT(stack),使它在長溝道情況下與單柵NMOS的閾值電壓VT相等,然后比較兩種結構閾值電壓隨溝道長度的變化率。我們通過降低疊柵結構的溝道摻雜濃度的方法,這樣就會得到在長溝道情況下兩種結構閾值電壓相等。實際情況下,將疊柵MOSFET溝道摻雜降為2×1016/cm3時,就可以得到上述結果。仿真結果如圖3所示。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/180502.htm

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        同樣提取相同閾值電壓單柵NMOS的情況,再將兩者的提取值比較,如圖4所示。顯然得到的結果是在溝道長度低于0.5μm時,疊柵MOSFET的閾值電壓變化率比單柵MOSFET的要小,抑制短溝道效應能力也必然要大得多。

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