基于GPIB/VXI/IEEE1394總線的板級電路功能測試和故障診斷自動(dòng)化測試系統(tǒng)
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5)進(jìn)行交叉和變異操作，形成新一代的種群。
6)當(dāng)平均適應(yīng)度值變化持續(xù)小于某一常數(shù)并超過一定代數(shù)時(shí)，得到具有最大適應(yīng)的個(gè)體作為最優(yōu)解輸出，并將得到的最優(yōu)解譯碼行得到優(yōu)化的參數(shù)。否則反復(fù)執(zhí)行3～5步。
7)把前一步得到的優(yōu)化參數(shù)作為SVM分類器主要參數(shù)C與的采用值，進(jìn)行樣本訓(xùn)練與故障分類。
融合了遺傳算法的SVM既保留了SVM算法的優(yōu)勢，又并入了遺傳算法的優(yōu)點(diǎn)。從分布均勻的多個(gè)點(diǎn)構(gòu)成的群體開始搜索，在尋求最優(yōu)解的過程中只需由目標(biāo)函數(shù)值轉(zhuǎn)換得到的適應(yīng)值，而不需其它輔助信息，使算法更加簡單且不易陷入局部最優(yōu)解的困境中。并避開了原SVM算法中參數(shù)C選值困難的劣勢，提高了分類器的分類正確率。本文引用地址：http://www.104case.com/article/175997.htm
3 電路診斷實(shí)例
整個(gè)故障診斷測試過程可用流程圖表示出來如圖3所示。在正確安裝好適配板后系統(tǒng)加電，判定系統(tǒng)提供的測試電壓無誤后，正確安裝上被測板，進(jìn)入各項(xiàng)功能測試階段。對各功能模塊逐步測試，若所有功能都通過測試，沒有測出不正常值，則系統(tǒng)顯示電路板功能正常，系統(tǒng)斷電，測試結(jié)束。若測試過程中得出一個(gè)或一個(gè)以上的錯(cuò)誤值，測試系統(tǒng)將進(jìn)入故障診斷測試部分。
以含常用元器件較多的繼電器開關(guān)控制電路為例，電路如圖4所示。當(dāng)電路中的某個(gè)元器件發(fā)生故障，如電阻開路或是運(yùn)放故障，輸出信號的電壓幅值、高值、低值、頻率和占空比等特性會(huì)發(fā)生變化，測試系統(tǒng)在測試時(shí)將這些電路特性值保存下來，留作樣本數(shù)據(jù)使用，再采用分類器進(jìn)行故障診斷。
將測試得到250個(gè)樣本，前100個(gè)做訓(xùn)練樣本，剩余的150個(gè)做測試樣本。訓(xùn)練集與測試集經(jīng)數(shù)據(jù)歸一化預(yù)處理后，用一般的支持向量機(jī)與基于遺傳算法的支持向量機(jī)分別進(jìn)行故障診斷。診斷結(jié)果如表1所示。基于遺傳算法的分類器故障診斷的正確率可高達(dá)99．33％。
4 結(jié)論
該多總線自動(dòng)化測試系統(tǒng)將多種測試儀器集成于一體，方便了測試。采用高傳輸速率的VXI與1394總線縮短了電路板測試過程中測試數(shù)據(jù)的傳輸及處理的時(shí)間，從而提高了測試的效率。系統(tǒng)通過不同的測試診斷程序，可測試不同的電路板，具有通用性與實(shí)用性，避免了測試系統(tǒng)重復(fù)建設(shè)而造成的資金浪費(fèi)，降低了測試系統(tǒng)開發(fā)與維護(hù)的成本。并在該測試系統(tǒng)資源平臺(tái)上增加了采用基于遺傳算法的支持向量機(jī)分類器，提高了電路診斷的正確率。
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