TC-08溫度記錄儀在光學薄膜激光量熱吸收測試的應用

　　1) 配置TC-08和Ti32。通過免費的配置軟件Picolog recorder配置TC-08溫度記錄儀，按照測試的需求設置數據記錄的模式，間隔，時長，通道和報警等，直接通過紅外熱像儀的操作面板按鍵對測試的事項配置Ti32;

　　2) 粘貼3條貼片式熱電偶線到鏡片背面;

　　3) 安裝各個儀器，打開大功率激光器，對準光學薄膜;

　　4) 開始記錄溫度數據。開啟TC-08和Ti32的記錄功能，開始進行溫度采集，顯示和存儲，過了一段時間后，關閉大功率激光器，繼續記錄光學薄膜自然冷卻至室溫的溫度變化;

　　5) 導出數據，得到熱吸收情況。將兩款溫度記錄儀的數據導出到電腦上對比驗證，并進行數據分析，通過熱力學理論求得光學薄膜對激光量的熱吸收情況。

　　4 結果分析

　　TC-08完成了溫度數據采集之后，可以直接在Picolog Recorder軟件上將記錄的數據導出格式為圖片、excel或者txt格式的數據。如下圖所示，圖4為TC-08測試的溫度曲線，圖5為TC-08測試的溫度數據。

　　對比TC-08和Ti32測試的數據，兩者數據總體趨勢一致，因為TC-08的測試精度(±0.5℃)相比Ti32的測試精度(±2℃)要高，且鏡片的面積較大，TC-08不僅僅測試了一個溫度點，而是同時測量3至5個點，求各個點的平均值，這樣得到的溫度數據更接近真實值，所以采取TC-08測試的數據作為后期的分析數據。通過熱力學原理得到光學薄膜對激光量的熱吸收情況，從而能夠判斷光學薄膜的性能。

　　5 結論

　　試驗表明，利用TC-08測試記錄的溫度曲線跟預期的理想溫度測試曲線十分相近，測量精度高，試驗成功。光學薄膜是所有光學系統中不可缺少的基本元件，往往也是最薄弱的環節之一，尤其在強激光系統中，光學薄膜即使出現十分微小的瑕疵，也會導致輸出光束質量下降。應用于強激光系統的光學薄膜，則更強調它的抗激光強度，圍繞提高這類薄膜的抗激光強度所開展的工作，使這類薄膜的研究更加深入。熱吸收是光學薄膜的一項重要性能指標，精度測量光學薄膜對激光量熱吸收可以大大優化激光光學器件。