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TC-08溫度記錄儀在光學薄膜激光量熱吸收測試的應(yīng)用
- 摘要：在激光系統(tǒng)中，光學薄膜的抗激光強度較低，這是光學薄膜研究中最重要的問題之一。測量光學薄膜對強激光的熱吸收情況對于光學薄膜的性能研究具有重大意義，而TC-08是一款可靠靈活的溫度記錄儀。本文介紹了利用TC-08溫度記錄儀“接觸式”地測試光學薄膜激光量熱吸收的測試，大大地擴展了TC-08在光電行業(yè)的應(yīng)用。
- 關(guān)鍵字： 廣州虹科 光學薄膜 熱吸收 TC-08溫度記錄儀 溫度測試
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