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        基于LabVIEW的BCU單板測試與診斷試驗(yàn)臺的開發(fā)

        作者: 時間:2013-08-02 來源:電子產(chǎn)品世界 收藏

          4.4 試驗(yàn)開發(fā)架構(gòu)

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/153275.htm

          綜上所述,對于被測電路板,由于所要測試的路數(shù)之多、功能復(fù)雜,完成測試軟件的任務(wù)繁重,因此本系統(tǒng)對人機(jī)交互、試驗(yàn)測試、文件操作等采用分層結(jié)構(gòu)模塊化設(shè)計,由上層到下次逐步分解,并從底層到上層逐步執(zhí)行,并生成對應(yīng)子vi,供上層調(diào)用,下層由上層提供參數(shù)配置,并將結(jié)果數(shù)據(jù)返回給上層并進(jìn)行處理。最大程度的利用LabVIEW中的相互調(diào)用實(shí)現(xiàn)硬件的可重用與軟件的模塊化?! ?/p>

         

          4.5 現(xiàn)場測試試驗(yàn)  

         

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