ARM嵌入式PDASTR710

　　1．3．2 LCD接口電路

　　該設(shè)計(jì)采用160×160像素LCD液晶顯示器，R18是一個(gè)滑動(dòng)變阻器可用于液晶顯示器進(jìn)行灰度的調(diào)節(jié)，LCD片選信號與處理器的P2．O引腳連接，圖3為LCD顯示的典型接口電路。

　　2 PDA系統(tǒng)功能的實(shí)現(xiàn)

　　完成硬件電路設(shè)計(jì)并調(diào)試通過后主要針對以下3方面的軟件編程功能實(shí)現(xiàn)：

　　對硬件電路(CPU及主要外圍電路)的初始化，NAND_FLASH驅(qū)動(dòng)程序和LCD驅(qū)動(dòng)程序的編寫及實(shí)現(xiàn)。

　　2．1 系統(tǒng)的初始化

　　初始化硬件電路主要完成STR7lO各寄存器的配置及內(nèi)存映射和中斷向量配置、處理器與外芯片的初始化以及功能庫函數(shù)加載等。其主要步驟是首先調(diào)用71x_init．s源文件完成CPU各寄存器的初始化配置后中斷異常的處理實(shí)現(xiàn)及中斷優(yōu)先級設(shè)置、系統(tǒng)堆棧和變量的初始化最后完成初始化后使用BL語句跳轉(zhuǎn)至MAIN功能函數(shù)：IMPORT main；B main；main為C語言主函數(shù)入口。初始化流程圖如圖4所示。

　　2．2 NAND_FLASH驅(qū)動(dòng)程序

　　NAND_FLASH的驅(qū)動(dòng)主要包括芯片的復(fù)位，ID的正確讀取，塊的擦除，和頁的寫入和讀取幾個(gè)操作。此外NAND_FLASH允許要2％的壞塊，在編寫驅(qū)動(dòng)時(shí)要做好NANDFLASH的壞塊的統(tǒng)計(jì)與管理，壞塊的識別主要是讀取塊中第一頁的第6字節(jié)的1個(gè)WORD是否為FF來判斷塊的好壞。為了便于統(tǒng)計(jì)壞塊和存儲(chǔ)管理須在調(diào)用NAND_FLASH內(nèi)存管理函數(shù)時(shí)建立壞塊統(tǒng)計(jì)表，系統(tǒng)不斷使用會(huì)增加壞塊的數(shù)量，在每次系統(tǒng)啟動(dòng)時(shí)都可以通過調(diào)用內(nèi)存管理函數(shù)來更新壞塊表實(shí)現(xiàn)對內(nèi)存的最優(yōu)管理以提高系統(tǒng)的性能。壞塊管理流程如圖5所示。

　　NAND_FLASH驅(qū)動(dòng)主要步驟：

　　(1)向指令寄存器寫入0xFF使芯片復(fù)位；