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        基于USB的ARM仿真器的研究與設計

        作者: 時間:2010-06-29 來源:網絡 收藏
        JTAG的調試是目前開發中采用最多的一種方式。大多數采用了片上JTAG接口,并將其作為測試、調試方法的重要組成。JTAG通過芯片的JTAG邊界掃描口與ARM CPU核通信,實現了完全非插入式調試,不使用片上資源,不需要目標存儲器,不占用目標系統的任何端口。由于JTAG調試的目標程序是在目標板上執行,使得仿真更加接近于目標硬件[1]。
        目前針對嵌入式系統開發的調試工具品種繁多,如ARM公司的AXD debugger軟件與Mutil-ICE等。但是大部分嵌入式調試工具價格過高,因此實現一種速度快、性能穩定、價格低廉、易于實現的ARM調試工具是十分必要的。
        1 ARM JTAG調試原理
        ARM典型的調試系統結構如圖1所示。調試系統包括調試主機、仿真器和調試目標。

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/151764.htm

        調試主機是一臺運行調試軟件(例如ADS)的計算機。調試主機可以發出高層的調試命令,例如設置斷點、訪問內存等[2]。
        仿真器用來將調試主機發出的高層調試命令轉換為底層的ARM JTAG調試命令。因為目標機無法識別調試主機發送來的高級命令,因此就需要仿真器將調試主機發出的高層調試命令轉換為底層的ARM JTAG調試命令[3]。在整個調試系統中起到重要的作用,其性能也決定了整個調試系統性能。
        2 方案
        本文提出了一種采用PHILIPS公司的ARM7芯片LPC2148設計,具有2.0通信方式、高速穩定的ARM仿真器實現方案,如圖2所示。


        守護進程接收從IDE集成開發環境發送來的調試命令,將其通過總線轉發到ARM仿真器,ARM仿真器再將調試命令轉換成JTAG格式的信號并發送到I/O口,從而控制調試目標執行特定的操作,達到調試的目的。同理,從調試目標返回的數據,先經過ARM仿真器的譯碼,再經過守護進程返回到IDE開發環境,從而形成一個完整的調試系統。
        3 硬件電路設計
        本設計的最大特點是采用了LPC2148作為主控芯片。該芯片內部集成了ARM7TDMI-S微控制器和完全兼容2.0的設備控制器,支持32個物理(16個邏輯)端點;支持控制、批量、中斷和同步端點;所有端點都有一個雙向的DMA通道。因為芯片內部集成了USB控制器,大大降低了電路板的設計難度和開發成本。其硬件電路框圖如圖3所示。

        (1)本機JTAG調試電路
        為了便于調試和燒寫程序,將芯片LPC2148的JTAG接口接到一個20引腳的標準JTAG插口。本設計中使用引腳P0.8、P0.9、P0.10、P0.12、P0.14作為外部JTAG接口,盡量不用有其他接口功能的引腳,如P0.11、P0.14接口與I2C接口SCL1、SDA1功能復用,以便于將來的硬件升級。為了增強帶負載能力,使用一片74HC244芯片,同時為了盡量兼容大部分ARM開發板上的不同JTAG插口,本設計提供了一個20引腳的JTAG插口和一個14引腳的JTAG插口。


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