一種實用新型家用電器性能測試電路

　　設(shè)計方案

　　本設(shè)計由主控電路、電器特性采集電路、溫度采集電路和通訊電路連接組成，主控電路由微控制器芯片、存儲器芯片、實時時鐘芯片和晶體振蕩電路組成;電器特性采集電路由專用電能采集芯片構(gòu)成;溫度采集電路由數(shù)字溫度傳感器構(gòu)成;通訊電路由紅外編解碼器和紅外收發(fā)器構(gòu)成。

　　主控電路中的微控制器芯片為8位或16位的單片機;存儲器芯片為FRAM存儲器、NVRAM存儲器或普通的靜態(tài)存儲器;專用電能采集芯片采用ADI的ADE665x芯片或Cirrus Logic的CS546x芯片;數(shù)字溫度傳感器采用傳感器DS18B20芯片;實時時鐘芯片選用DS1302芯片或PCF8563芯片。

　　所述的的8位或16位單片機應(yīng)為PIC的8位或16位單片機、51系列單片機或AVR系列單片機。

　　該實用新型家用電器產(chǎn)品性能測試電路，其中微控制器芯片選用為PIC的18F4520芯片，存儲器選用為FM25256芯片，微控制器與存儲器的接口采用了SPI串行總線，時鐘芯片選擇了DS1302芯片。

　　所述的通訊電路紅外編解碼器采用MAX3100、紅外收發(fā)器采用TFDU4100。

　　附圖說明

　　圖1為電路的連接結(jié)構(gòu)框圖。　　

 

　　圖2為主控電路圖，其中(U1)為微處理器連接示意圖;(U2)為存儲器連接示意圖;(U3)為實時時鐘連接示意圖;(Y1)為系統(tǒng)時鐘連接示意圖。