安捷倫發(fā)布適用于電子測(cè)量的多功能分析儀

　　安捷倫科技公司日前宣布推出Agilentx1149邊界掃描分析儀。

　　邊界掃描已經(jīng)成為工程師們?cè)趹?yīng)對(duì)日益增加的測(cè)試接入挑戰(zhàn)時(shí)必不可少的技術(shù)。x1149邊界掃描分析儀是一款功能廣泛、使用方便的電路板測(cè)試工具，能夠幫助用戶(hù)進(jìn)行電路板設(shè)計(jì)和驗(yàn)證，以及在生產(chǎn)過(guò)程中重復(fù)進(jìn)行相同的x1149測(cè)試。

　　該分析儀提供了直觀的操作界面，您只需點(diǎn)擊一下鼠標(biāo)便可在屏幕上輕松瀏覽所有信息。關(guān)鍵特性包括：

　　•覆蓋擴(kuò)展技術(shù)和硅釘能力。

　　•直接使用STAPL標(biāo)準(zhǔn)文件用于CPLD/FPGA的燒錄。

　　•掃描路徑鏈接器(ScanPathLinker)可將多條鏈路連接到一條鏈路上。

　　•完全兼容的器件支持IEEE1149.1和IEEE1149.6標(biāo)準(zhǔn)。

　　安捷倫測(cè)量系統(tǒng)事業(yè)部總經(jīng)理BoonKhimTan表示：“在iNEMI調(diào)查中，90%的受訪者認(rèn)為內(nèi)置自測(cè)(BIST)功能是產(chǎn)品測(cè)試的關(guān)鍵;而60%的電路板設(shè)計(jì)人員表示自己需要使用BIST對(duì)電路板的性能進(jìn)行驗(yàn)證。BIST的接入方法主要是通過(guò)邊界掃描進(jìn)行接入。”

　　“x1149邊界掃描分析儀是安捷倫為滿(mǎn)足業(yè)界更多BIST需求而特別設(shè)計(jì)的。我們持續(xù)致力于為客戶(hù)提供最佳的投資回報(bào)，x1149就是證明。它是一款多功能的儀器，可在從設(shè)計(jì)和驗(yàn)證到批量生產(chǎn)的整個(gè)產(chǎn)品開(kāi)發(fā)過(guò)程中使用。所有儀器均具有相同的測(cè)試可過(guò)渡移植性、可靠性和穩(wěn)定性，這是安捷倫解決方案的標(biāo)志性?xún)?yōu)勢(shì)。”