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        NI PXI開關為規模化測試延長射頻測試系統壽命并提高速度

        作者: 時間:2012-08-13 來源:電子產品世界 收藏

          美國國家儀器公司(National Instruments, 簡稱 )近日發布新的 固態射頻多路復用器,為工程師提供了一個長期高效的解決方案來對高達6.6GHz的射頻信號的路由進行優化。相較傳統的機電開關解決方案, 的固態構架能夠實現更加快速的開關以及多次重復測量。  

        本文引用地址:http://www.104case.com/article/135671.htm

         

          感言:

          “新的NI 固態開關是基于行業領先的NI PXI平臺的成功經驗構建而成,其固態架構為射頻應用提供了高速度和可靠性。”美國國家儀器有限公司測試市場總監Charles Schroeder如是說道,“使用這個開關,自動化測試領域的工程師可以整合并同步許多PXI儀器,包括射頻發生器和分析儀,從而最大化測試系統的投入產出比并能夠進一步提高精確度和吞吐量。”

          產品特性

          針對于高密度射頻開關的6.6GHz雙4x1多路復用器,適用于多站測試

          采用固態架構,延長了開關的使用壽命

          所有通道都使用了50 Ohm終端,提高射頻性能

          整合PXI觸發以進行快速可重復的測量



        關鍵詞: NI PXI/PXIe-2543

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